| 姓名 |
劉育銨(yu-an Liu)
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工業管理研究所在職專班 |
| 論文名稱 |
以田口方法求取IC載板外觀檢測設備之關鍵參數設定
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| 摘要(中) |
近年來，自動外觀檢測（Auto Visual Inspection）在PCB產業中逐漸佔據重要的地位，出發點是客戶要求高品質的產品影響。設備的投資佔整體成本為關鍵因素，所以如何提升外觀檢測設備效率間接降低成品的重工再測的時間，造成工時浪費，為近期產業界常常探討的嚴肅議題。一個有效的檢測模式，攸關量產參數設定的適當性，影響到是檢測流程是否能穩定檢出不良品，讓良品不被假缺點影響檢出，又能適應產品本身公差變異干擾，而設計出穩健參數卻又不受產品的變異影響變成重要議題。為克服此這常見的問題，使特別借用田口實驗設計法，在有限的時間限制內、實驗次數、資源條件下，找出最最佳佳化設備參數設計，以提昇檢測效益。所以希望透過田口方法來求取設備之最佳設定化參數，找出最佳的設定參數。
本研究藉田口方法之穩健實驗設計，針對IC載板上防焊缺點進行外觀檢測，並改善檢測效率。對於本研究之品質特性是以外觀檢測良品率的最大化作為目標，使用直交表配置，經Ω轉換把百分比型態的資料轉換成加性資料形態，測試其品質特性反應值，求得S/N比，推算最佳水準之設定參數組合。
本研究利用設備參數之最佳化組合進行確認測試。量產結果顯示，使用最佳化參數的外觀檢測設備，人員線上目檢因假點減少原因，檢測時間減少約10%，使得生產之外觀檢測機台產能提升約20%。最後重工發生比例減少，生產工時達到有效應用之目的。 |
| 摘要(英) |
In recent years, AVI (Auto Visual Inspection) has been playing an important part in the industry of Printed Circuit Board (PCB) due to the required high quality of finished products from the clients′ aspect. Besides, the investment in equipment plays a key role in the overall costs. Therefore, how to increase the efficiency of AVI in order to cut down on the time of re-tests, which are time-consuming, has become a hot issue nowadays. An efficient inspection model closely influences the appropriateness of the setting of production parameters. It is essential that fine products will not be falsely detected but will adapt to the disturbance of tolerance variations from the products themselves. As a result, it is crucial to design a stable parameter setting which will not be affected by the variations among products.to reach such a goal, this study adopts Taguchi experiment design method to optimize the design of production parameter settings in order to increase the efficiency of inspections in limited time constraints, resources, and numbers of tests.
In the robust concept of Taguchi experiment design method, the welding shortcomings of IC carrier boards will be examined visually to improve detection efficiency.This study aims at maximizing the percentage of the visual inspections of fine finished products by using the L18 orthogonal table configuration, and through converting data types from percentage to additive information in the method of Taguchi experiment design. By testing the qualitative reaction value and calculating the S/N ration, the best parameter setting can be found.
In this study, the optimal combination of the parameters of the equipment to confirm the test. Production results showed that the appearance of using the best parameter testing equipment, visual inspection of personnel due to false online point reduction reasons, the detection time is reduced by about 10%, so that visual inspection of the machine can improve production capacity by about 20%. Finally, the manufacturing steps can be effectively applied, the relative reduction ratio occur Heavy Industries. |
| 關鍵字(中) |
★ 田口方法
★ 穩健設計
★ 外觀檢測
★ 覆晶載板 |
關鍵字(英) |
★ Taguchi method
★ robust design
★ visual inspection
★ IC Carrier |
| 論文目次 |
中文摘要 v
Abstract vi
目錄 viii
圖目錄 x
表目錄 xii
一、 緒論 1
1-1 研究背景 1
1-2 研究目的與動機 2
1-3 研究架構與流程 3
二、 文獻回顧 4
2-1 田口方法介紹 4
2-1-1 穩健參數之設計 5
2-1-2 規劃穩健參數設計的步驟 8
2-1-3 品質特性之理想機能 9
2-1-4 實驗直交教表法 13
2-1-5 變異數分析 15
2-2 田口方法相關研究 19
三、 問題描述 22
3-1 IC載板介紹 22
3-1-1 IC載板與PCB 22
3-1-2 相關產品介紹 23
3-2 IC載板製程介紹 25
3-3 PCB外觀檢測設備概述 27
3-3-1視覺檢測設備優點 28
3-3-2視覺檢測設備缺點 29
3-3-3視覺檢測設備光學檢測原理 29
3-4 外觀檢測設備參數原理說明 33
3-5 檢測相關參數說明 34
四、 測試及分析結果 37
4-1 設定實驗目標及品質特性 37
4-2 實驗樣本收集 37
4-3 設定直交表及控制因子 39
4-3-1 設定控制因子 39
4-3-2 實驗直交表建立 40
4-4 實驗及數據說明 41
4-5 變異數分析 45
4-6 確認實驗結果及預測最佳化 48
4-7 試驗結果 50
五、 結論與未來展望 51
5-1 結論 51
5-2 未來展望 51
中文參考文獻 53
英文參考文獻 55
中文摘要
Abstract
目錄
圖目錄
表目錄
一、 緒論
1-1 研究背景 1
1-2 研究目的與動機 2
1-3 研究架構與流程 3
二、 文獻回顧
2-1 田口方法介紹 4
2-2-1 穩健參數之設計
2-2-2 規劃穩健參數設計的步驟
2-2-3 品質特性之理想機能
2-2-4 實驗直交教表法
2-2-5 變異數分析
2-2 田口方法相關研究 17
三、 問題描述
3-1 IC載板介紹 19
3-1-2 IC載板與PCB
3-1-3 相關產品介紹
3-2 IC載板製程介紹 22
3-3 PCB外觀檢測設備概述 24
3-3-1 自動（光學）視覺檢測設備優點
3-3-2 自動（光學）視覺檢測設備缺點
3-3-3 自動（光學）視覺檢測設備光學檢測原理
3-3-4 27
3-4 外觀檢測設備參數原理說明 30
3-5 檢測相關參數說明 31
四、 測試及分析結果
4-1 設定實驗目標及品質特性 34
4-2 實驗樣本收集 34
4-3 設定直交表及控制因子 36
4-3-1 設定控制因子
4-3-2 實驗直交表建立
4-4 實驗及數據說明 38
4-5 變異數分析 42
4-6 確認實驗結果及預測最佳化 45
4-7 試驗結果 47
五、 結論與未來展望
5-1 結論 49
5-2 未來展望 49
中文參考文獻
英文參考文獻
中文摘要 iv
Abstract v
目錄 vii
圖目錄 ix
表目錄 xi
一、 緒論 1
1-1 研究背景 1
1-2 研究目的與動機 2
1-3 研究架構與流程 3
二、 文獻回顧 4
2-1 田口方法介紹 4
2-2-1 穩健參數之設計 5
2-2-2 規劃穩健參數設計的步驟 8
2-2-3 品質特性之理想機能 9
2-2-4 實驗直交教表法 12
2-2-5 變異數分析 14
2-2 田口方法相關研究 17
三、 問題描述 20
3-1 IC載板介紹 20
3-1-2 IC載板與PCB 20
3-1-3 相關產品介紹 21
3-2 IC載板製程介紹 23
3-3 PCB外觀檢測設備概述 24
3-3-1 自動（光學）視覺檢測設備優點 25
3-3-2 自動（光學）視覺檢測設備缺點 26
3-3-3 自動（光學）視覺檢測設備光學檢測原理 26
3-4 外觀檢測設備參數原理說明 31
3-5 檢測相關參數說明 32
四、 測試及分析結果 34
4-1 設定實驗目標及品質特性 34
4-2 實驗樣本收集 34
4-3 設定直交表及控制因子 36
4-3-1 設定控制因子 36
4-3-2 實驗直交表建立 37
4-4 實驗及數據說明 38
4-5 變異數分析 42
4-6 確認實驗結果及預測最佳化 45
4-7 試驗結果 47
五、 結論與未來展望 48
5-1 結論 48
5-2 未來展望 48
中文參考文獻 50
英文參考文獻 52 |
| 參考文獻 |
中文參考文獻
﹝1﹞黃廷彬，口式品質工程靜態參數設計，中國生產力中心，1997年。
﹝2﹞李輝煌，田口方法品質設計的原理與實務，四版，高立圖書有限公司，台北市，2015年 。
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﹝5﹞台灣電路板協會，電路板電氣測試與AOI檢驗技術簡介，台灣電路板協會，桃園市，2008年。
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﹝7﹞卓正哲，以田口方法探討下照式面光源快速原型機之最佳建構參數，國立臺灣科技大學碩士論文，2005年。
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﹝10﹞林榮泉，應用田口方法於發光二極體導線架射出成型參數最佳化之研究，國立中央大學碩士論文，2012年。
﹝11﹞潘奕成，以田口方法求解IC封裝檢測製程參數之穩健設計問題，國立成功大學碩士論文，2014年。
﹝12﹞詹世祥，台灣IC載板產業於兩岸佈局策略之研究，逢甲大學碩士論文，2009年。
﹝13﹞梅領亮，PCB最终外观检查机关键技术研究，成都電子科技大學碩士論文，2010年。
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英文參考文獻
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﹝3﹞Micron Laser Technology：2016，取自：http://www.micronlaser.com。
﹝4﹞Teledyne DALSA :2016，取自: http://www.teledynedalsa.com/corp/。 |
| 指導教授 |
王啟泰
|
審核日期 |
2016-7-22 |
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