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姓名	蔡良盛(Lian-She Tsai)  查詢紙本館藏	畢業系所	電機工程學系
論文名稱	基於IEEE 1057之類比數位轉換器量測技術 (IEEE 1057 Based ADC Test Methodology)
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摘要(中)	近年來由於混合信號的量測的需求據增，再加上單晶系統(system on chip:SOC)技術快速發展，使得晶片的容量變大，因而使得測試相對變的較複雜，所需測試時間亦較長，因此我們便根據IEEE 1057的標準，提出各種不同的量測方法，使傳統的大型混合信號測試機台，可以有一個很好的量測技術方法可參考。 為了使量測不因取樣的關係，產生不應該有的錯誤，因此我們先提出取樣點的頻率與週期的決選方法，為了使IEEE 1057(IEEE Standard for Digitizing Waveform Recorders)的各種量測方法，能夠看出對類比數位轉換器(analog to digital converter:ADC)的明顯差異，因此我們提出了非理想類比數位轉換器的錯誤模型，接著利用建立起來的非理想類比數位轉換器模型，使用IEEE 1057各種不同方法，針對我們數位類比轉換器量測比較其非理想特性，與雜訊對我們實際量測的差異，最後為了方便使用者能夠很方便的更改類比數位轉換器的各種規格，進行觀察各種測試方法所得到的不同結果，因此我們以MATLAB建立起一個使用者介面，使我們能夠很輕易更改不同的類比數位轉換器規格，並迅速的顯示各種不同的量測結果。
關鍵字(中)	★ 混合信號量測 ★ 類比數位轉換器 ★ 類比數位轉換器量測技術	關鍵字(英)	★ Mix signal testing ★ analog to digital ★ analog to digital test methodology
論文目次	第一章 簡介 1 1.1動機..............................................1 1.2研究方法.......................................... 1 1.3其他章節架構......................................4 第二章 取樣的基礎面 5 2.1取樣信號與取樣個數的關係..........................5 2.2頻率的選擇對我們信號分析的影響....................8 2.3由弦波峰值的量測來決定如何取樣....................10 第三章 類比數位轉換器非理想特性的探討 15 3.1類比數位轉換器增益與偏差量.........................15 3.2類比數位轉換器非線性特性的考量.....................18 3.3類比數位轉換器操作頻率特性的考量...................20 第四章 類比數位轉換器使用IEEE 1057 標準量測 22 4.1柱狀圖測試法.......................................22 4.2曲線符合度法.......................................26 4.3傅利葉分析法.......................................31 4.4單調與磁滯現象的量測...............................36 4.5時間基礎錯誤分析法.................................37 4.6步級嚮應分析.......................................40 第五章 MATLAB設計使用者介面 42 5.1MATLAB使用介面設計流程.............................42 5.2MATLAB各功能鍵設計簡單介紹.........................43 5.3 MATLAB控制測試視窗介紹............................45 第六章 結論 49 參考文獻 50
參考文獻	[1] Chin-Long Wey ,“Mixed-signal circuit testing-A review”, Proceedings of the Third IEEE International Conference，Vol.2,pp. 1064 —1067, 1996 [2] Diamant, P.E.; Harrold, S.J.,”Automatic generation of mixed-signal test programs from simulation data”, Testing Mixed Signal Circuits, IEE Colloquium, Vol.6,pp1-4,1992 [1] Demidenkol, S.; Piuri, V.,” Using spectral warping for instrumentation and measurements in mixed-signal testing”, Instrumentation and Measurement Technology Conference, 1999. IMTC/99. Proceedings of the 16th IEEE, Vol.3,pp1547-1552，1999 [4] Mir, S.; Lubaszewski, M.; Liberali, V.; Courtois, B.,” Built-in self-test approaches for analogue and mixed-signal integrated circuits”, Circuits and Systems, 1995., Proceedings., Proceedings of the 38th Midwest Symposium,Vol.2,pp1145 —1150,1996 [5] Hansen, P.,” Implementing boundary scan test strategies”, AUTOTESTCON '90. IEEE Systems Readiness Technology Conference. 'Advancing Mission Accomplishment', Conference Record.,pp325 —329,1990 [6] Russell, G.,“Knowledge based systems used in design for testability-an an overview”, Algorithmic and Knowledge Based CAD for VLSI, IEE Colloquium,Vol.1,pp1-4,1989 [1] 傅偉宸,”Frequency Response Measurement Using on-Chip ADC”,中央大學，Vol3,pp11-17,1998 [8] IEEE Std 1057 , IEEE trial-use standard for digitizing waveform recorders, 21 July,1989 [9] IEEE Std 1057-1994 , IEEE standard for digitizing waveform recorders, 30 Dec. 1994 [10] ANSI/IEEE Std 181-1977, IEEE standard on pulse measurement and analysis by objective techniques, 22 July 1977 [11] MATLAB High-performance numeric computation and visualization software : Building a graphical user interface, The MATH WORKs Inc,1995 [12] Kevin M. Daugherty, Analog-to-Digital Converter A Practical Approach,1994 [13] Ehsanian, M.; Kaminska, B.; Arabi, K.,” A new digital test approach for analog-to-digital converter testing”, VLSI Test Symposium, 1996., Proceedings of 14th ,pp60-65,1996 [14] Kuyel, T.,“Linearity testing issues of analog to digital converters”, Test Conference, 1999. Proceedings. International,pp747-756,1999 [15] Larrabee, J.H.; Hummels, D.M.; Irons, F.H.,” ADC compensation using a sinewave histogram method”, Instrumentation and Measurement Technology Conference, 1997. IMTC/97. Proceedings. Sensing, Processing, Networking.,Vol.1,pp628-631,1997 [16] Mielke, J.A. ,“Frequency domain testing of ADCs”, IEEE Design & Test of Computers,Vol.13,pp64-69,1996
指導教授	蘇朝琴(Chauchin Su)	審核日期	2000-6-30
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