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[電機工程研究所] 期刊論文
2008
A built-in redundancy-analysis scheme for random access memories with two-level redundancy
Chang,Da-Ming
;
Li,Jin-Fu
;
Huang,Yu-Jen
[電機工程研究所] 期刊論文
2008
A Multi-Code Compression Scheme for Test Time Reduction of System-on-Chip Designs
Shieh,Hong-Ming
;
Li,Jin-Fu
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
An efficient diagnosis scheme for RAMs with simple functional faults
Li,Jin-Fu
;
Huang,Chao-Da
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
ProTaR: An infrastructure IP for repairing RAMs in system-on-chips
Huang,Chao-Da
;
Li,Jin-Fu
;
Tseng,Tsu-Wei
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
Raisin: Redundancy analysis algorithm simulation
Huang,Rei-Fu
;
Li,Jin-Fu
;
Yeh,Jen-Chieh
;
Wu,Cheng-Wen
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
Testing ternary content addressable memories with comparison faults using march-like tests
Li,Jin-Fu
[電機工程研究所] 期刊論文
2007
Transparent-test methodologies for random access memories without/with ECC
Li,Jin-Fu
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