中大機構典藏-NCU Institutional Repository-提供博碩士論文、考古題、期刊論文、研究計畫等下載:Item 987654321/1853
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 69937/69937 (100%)
造访人次 : 23432253      在线人数 : 605
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/1853


    题名: TFT-LCD衝擊模擬分析及驗證研究
    作者: 陳君明;Chun-Ming Chen
    贡献者: 機械工程研究所
    关键词: LCD;衝擊;LS-DYNA;shock;LS-DYNA;LCD
    日期: 2003-07-02
    上传时间: 2009-09-21 11:33:05 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 產品在運輸、搬運或使用過程中承受到各種形式的衝擊,隨著電子性產品小型輕薄化,衝擊對電子性產品產生的影響相當大。本研究對TFT-LCD模組進行衝擊分析及試驗驗証,由於衝擊時間十分短暫,要去了解其受衝擊時反應十分不易,研究中採用兩種方式—衝擊試驗驗証與有限元素模擬分析,探討TFT-LCD模組受衝擊時之動態行為,藉由數值模擬與實驗兩者相互印証,以對結構設計提出適切改善。為了使TFT-LCD模組設計能達到在模具開發製作前就加以評估的目的,研究中使用有限元素軟體LS-DYNA對TFT-LCD模組進行衝擊模擬,預測TFT-LCD模組衝擊時整體的力學行為,並與實驗結果比較,進行分析模型修正;隨後TFT-LCD模組進行設計改善,建立TFT-LCD模組設計的分析評估方式。 衝擊試驗是了解產品能承受多大衝擊的指標,能承受的衝擊值愈大,產品的可靠度愈高,研究中對產品進行不同方向衝擊,探討所造成的衝擊響應,藉由衝擊試驗找出產品結構上的弱點進行改善,進而提高產品的可靠度。試驗結果不僅可以了解TFT-LCD模組可能發生的變形,並驗證有限元素分析模式的合理性。由TFT-LCD模組有限元素分析過程中,發現金屬前框在長邊中間受衝擊時有高應力區現象,和試驗結果變形發生的地方吻合,進而以有限元素分析對此進行設計改善,消除原先高應力區現象。 本文以試驗及模擬,建立了TFT-LCD模組設計的評估方式,同時應用此兩種實驗與數值模擬方法,可以有效地進行TFT-LCD模組設計,有助於縮短開發時程,提高產品競爭力。 略
    显示于类别:[機械工程研究所] 博碩士論文

    文件中的档案:

    档案 大小格式浏览次数


    在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回馈  - 隱私權政策聲明