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    题名: INTERFERENCE-FRINGES IN WHITE-LIGHT USING GRATING-BEAM-DEFLECTORS
    作者: CHENG,YS
    贡献者: 光電科學研究所
    关键词: INTERFEROMETER
    日期: 1993
    上传时间: 2010-06-29 19:45:03 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: Ray tracing is utilized to obtain the expression of the wave amplitudes at the observation plane in the multiple-grating interferometer. The white-light condition as well as the broad-source condition are found both for the simple three-grating interferometer and for the multiple-grating interferometer with grating lines oriented in arbitrary directions. Finally, a variable-frequency grating interferometer, composed of four identical gratings, which can be operated under white-light broad-source illumination is proposed.
    關聯: OPTIK
    显示于类别:[光電科學研究所] 期刊論文

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