中大機構典藏-NCU Institutional Repository-提供博碩士論文、考古題、期刊論文、研究計畫等下載:Item 987654321/35550
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 78818/78818 (100%)
造访人次 : 34699405      在线人数 : 1134
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/35550


    题名: Ohmic performance comparison for Ti/Ni/Au and Ti/Pt/Au on InAs/graded InGaAs/GaAs layers
    作者: Lyu,YT;Jaw,KL;Lee,CT;Tsai,CD;Lin,YJ;Cherng,YT
    贡献者: 光電科學與工程學系
    关键词: MOLECULAR-BEAM EPITAXY;CONTACTS;RESISTANCE;INAS/INGAAS
    日期: 2000
    上传时间: 2010-07-07 14:35:45 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: Metallization systems of Ti/Ni/Au and Ti/Pt/Au were deposited onto InAs/graded InGaAs/GaAs epitaxial layers grown on GaAs substrate. Both of them exhibit good nonalloyed specific contact resistance of 1.0 x 10(-6) and 3.0 x 10(-6) Ohm cm(2) for Ti/Pt/Au a
    關聯: MATERIALS CHEMISTRY AND PHYSICS
    显示于类别:[光電科學與工程學系] 期刊論文

    文件中的档案:

    档案 描述 大小格式浏览次数
    index.html0KbHTML565检视/开启


    在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明