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    题名: Measurement of stress in aluminum film coated on a flexible substrate by the shadow moire method
    作者: Lee,Kuan-Shiang;Tang,Chien-Jen;Chen,Hsi-Chao;Lee,Cheng-Chung
    贡献者: 薄膜技術研究中心
    日期: 2008
    上传时间: 2010-07-07 15:47:10 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: This investigation proposes the use of the shadow moire method (SMM) to measure stress in a thin film that is coated on a flexible substrate. The technique 'defines the profile of the sample by contour lines without the application of an external force, a
    關聯: APPLIED OPTICS
    显示于类别:[薄膜技術研究中心] 期刊論文

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