Precise determination of absolute coverage of thin films by layer-resolved surface states

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题名:	Precise determination of absolute coverage of thin films by layer-resolved surface states
作者:	Cheng,Cheng-Maw;Tsuei,Ding;Tsai,Chi-Ting;Luh,Dah-An
贡献者:	物理研究所
关键词:	QUANTUM-WELL STATES;ATOMICALLY UNIFORM FILMS;PHOTOEMISSION;PB
日期:	2008
上传时间:	2010-07-08 13:20:48 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	We report a technique to determine the coverage of metallic thin films by analyzing layer-resolved surface states with photoemission by using atomically flat Ag/Au(111) thin films as a test system. We analyzed the surface state on Au(111) covered with Ag
關聯:	APPLIED PHYSICS LETTERS
显示于类别:	[物理研究所] 期刊論文

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