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    題名: High-precision tracking and charge selection with silicon strip detectors for relativistic ions
    作者: Alpat B;Ambrosi G;Balboni C;Battiston R;Biland A;Bourquin M;Burger WJ;Chang YH;Chen AE;Dinu N;Extermann P;Fiandrini E;Hou SR;Ionica M;Ionica R;Lin WT;Lustermann W;Maehlum G;Menichelli M;Pauluzzi M;Produit N;Rapin
    貢獻者: 物理研究所
    關鍵詞: MULTIPLE COULOMB SCATTERING;RESOLUTION
    日期: 2000
    上傳時間: 2010-07-08 13:40:54 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: High-precision tracking and charge selection with silicon strip detectors for relativistic ions has been investigated using a C-12 beam of 1.5 GeV/u at GSI with prototype modules developed for the EMS tracker. The ionization energy loss is measured and co
    關聯: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
    顯示於類別:[物理研究所] 期刊論文

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