掃描量測資料離線檢測技術發展; On the Development of an Off-Line Inspection Technology for Optical Scanning Data

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題名:	掃描量測資料離線檢測技術發展;On the Development of an Off-Line Inspection Technology for Optical Scanning Data
作者:	賴景義
貢獻者:	機械工程學系
關鍵詞:	離線檢測;全面性檢測;CAD 誤差比對;三角網格模型;自動化工程
日期:	2006-07-01
上傳時間:	2010-12-06 15:09:00 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	光學掃瞄系統於產品全面性尺寸檢測的應用已逐漸普遍，例如對實體模型掃瞄資料進行幾何資訊的擷取；對工件剖面曲線進行誤差比對；對局部或完整CAD 模型進行誤差比對等。光學掃瞄系統一般能大量取點，並以三角網格資料儲存，檢測分析工作可在離線進行，因此離線檢測軟體的發展對於上述功能是否可以達成，扮演重要的角色。本計劃在發展一離線檢測系統，主要目的有四，第一、具有量測資料座標定位功能，使量測資料與CAD 模型座標系統一致；第二、具有基本尺寸及幾何公差檢測功能，可由掃瞄量測資料中進行藍圖所標示之各項尺寸及幾何公差量測，並標註於幾何模型上；第三、具有剖面曲線誤差比對功能，可對任意截面之 CAD 模型與量測資料進行誤差對；第四、具有CAD 誤差比對功能，可對局部曲面或全部CAD 模型進行誤差比對，並以數據及圖形方式顯示誤差比對結果。研究期間：9408 ~ 9507
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[機械工程學系] 研究計畫

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