彩色濾光片新製程與設備之研發---子計畫三：彩色濾光片製程參數控制與瑕疵檢測系統研發; The Study on Fabrication Parameter Control and Defect Inspection for Color Filter

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題名:	彩色濾光片新製程與設備之研發---子計畫三：彩色濾光片製程參數控制與瑕疵檢測系統研發;The Study on Fabrication Parameter Control and Defect Inspection for Color Filter
作者:	董必正
貢獻者:	機械工程學系
關鍵詞:	彩色濾光片;機器視覺;瑕疵檢測;機械工程類
日期:	2008-07-01
上傳時間:	2010-12-28 14:35:06 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	由於彩色濾光片佔TFT-LCD 面板生產成本將近20%，因此成為各面板廠積極向上游整合的關鍵零組件之一。然而，目前在彩色濾光片的瑕疵檢測上仍多是倚賴人工進行處理，但整個檢測過程不僅單調且重複性高，易使檢測人員產生倦怠感，導致檢測效率不佳，加上其判斷準則多半取決於個人經驗，大幅降低檢測結果的一致性與可信度，使得彩色濾光片在市場上仍是呈現供不應求的情形。因此，為了提升彩色濾光片的檢測效率，並能確實檢測出不易為人眼所觀察到的微觀瑕疵，就必須導入機器視覺檢測技術，才能有效降低人事成本及人為誤差，提高檢測速率與確保品質的一致性，以滿足大量生產的需求。故本研究計畫的主要目的是發展機器視覺自動化瑕疵檢測系統，以期能正確檢測出彩色濾光片之瑕疵，接著分析各類型瑕疵產生的原因，進而即時調整智慧型供料系統的相關控制參數，並提供其他子計畫作為改善製程參數的依據，如此便可即時監控整個製程，避免短時間內產生大量相同類型的瑕疵品。研究期間：9608 ~ 9707
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[機械工程學系] 研究計畫

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