高精密色度光學檢測系統之研發---子計畫二：色度檢測用干涉式彩色濾光片研發與製鍍; Research and Fabrication of Optical Interference Filter for Colorimetry Testing

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題名:	高精密色度光學檢測系統之研發---子計畫二：色度檢測用干涉式彩色濾光片研發與製鍍;Research and Fabrication of Optical Interference Filter for Colorimetry Testing
作者:	李正中
貢獻者:	光電科學研究所
關鍵詞:	光學薄膜;干涉濾光片;離子助鍍;應力;色彩學;光源校正;彩色濾光片;Optical thin film;Interference filter;Ion beam assisted deposition;Stress;Colortechnology;Color filter;光電工程
日期:	2008-07-01
上傳時間:	2010-12-28 15:33:15 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	本計畫之執行主要針對理論、實驗與應用三方面作深入的研究，理論部分將結合光學薄膜與色彩學，來設計所需之干涉式濾光片，實驗部分將分別以不同製程製作多層膜干涉濾光片(如離子助鍍（IAD）)，利用掃瞄式及穿透式顯微鏡 (SEM 與TEM)觀測薄膜其整體微觀結構，再利用橢圓偏光儀以及干涉相移式應力量測儀量測其宏觀的光學與機械行為，包括光學特性及應力，來找尋最佳的製鍍條件，以獲得穩定、重複性高等優良特性的多層膜光學薄膜。在應用上主要分為兩種濾光片，其一是對量測光源加干涉式濾光片的方式作光源的校正，目的使光源(如固態照明混光)成為真正的標準光源，以此作為光度計量測光源，使量測結果更加精準；另一部份則為彩色濾光片的設計與製作，主要的研究方向是製作符合人眼視覺的彩色濾光片以及配合製作子計畫一和三所需之特定規格的彩色濾光片，使能檢測的色域範圍更廣，更能呈現顯像之精確性與視覺相同的視知覺，進而提高本研究所發展的色度光學檢測系統的精確度，藉由此系統將提升顯示器、照明等與色彩相關科技研發與我國產業的整體品質。研究期間：9608 ~ 9707
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[光電科學與工程學系] 研究計畫

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