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    題名: 磁場輔助微電化學鑽孔加工特性之研究;An Investigation of Magnetic Field Assisted Electrochemical Micro Drilling
    作者: 林聖育;Sheng-yu Lin
    貢獻者: 機械工程研究所
    關鍵詞: 雜散電流影響區;向上加工;勞侖茲力;磁場;微電化學鑽孔;Electrochemical micro drilling (ECMD);Upward feed mode;Straying current corrosion area;Lorentz force;Magnetic field
    日期: 2011-07-20
    上傳時間: 2012-01-05 12:29:51 (UTC+8)
    摘要: 本研究利用磁場輔助微電化學鑽孔,進行一系列加工特性之研究,內容主要可分為兩大部分: 第一部分研究加入磁場對電化學加工造成的效益。實驗結果顯示:電場中加入磁場會產生勞侖茲力,可影響帶電離子的運動,因此可以促進電解液更新,提升加工效率與精度。如欲擁有最大的加工能力,須將磁場以90°放置,因此時磁場方向與電場方向垂直,方能產生最大的勞侖茲力。運用磁場輔助電化學加工,在不旋轉電極、不施予沖流的加工條件下,可得到直徑最小為407 μm之微孔。但由於本研究使用的電極側邊並未絕緣,會產生較大的雜散電流腐蝕區域,因此下部份將就縮小雜散電流影響區,提出新的加工方法並進行研究。 第二部分是向上加工之特性研究。以向上進給方式進行加工時,其概念類似混氣電解加工。藉由電化學反應生成的氣泡在工件表面累積形成保護層,將可有效減少雜散電流影響區面積,並同步減少擴孔量而提升加工精度。以向上加工進行微電化學鑽孔時,能有效改善雜散電流的腐蝕情況,其環帶寬度最小可降低至106 μm。 The Study discusses the machining properties of magnetic field assisted micro electro-chemical drilling. It includes two major parts. First, the advantages of magnetic field assisted method are confirmed. The results reveal that the Lorentz force is helpful to renew the electrolyte to promote the machining efficiency and accuracy. When the magnet field direction is set perpendicular to the electrical field, the maximal Lorentz force is induced to increasing machining efficiency observably. With magnetic assist, the minimal micro hole with ψ407 μm is processed, even though the tool electrode doesn’t rotate between the working time. Furthermore, when the electrode doesn’t rotate, the straying current corrosion area occurred around the entrance edge will expand. To overcome this problem, a new upward feed machining method is presented. Second, the machining properties of upward feed mode are investigated. The conception of upward feed mode is similar to gas mixed electrochemical machining. Because the reaction bubbles assemble on the workpiece surface like a protection layer, the straying current corrosion area and the hole-enlargement are reduced, and the machining accuracy is increased. In the upward mode, the straying current corrosion is improved effectively, and the annulus width is reduced to minimal 106 μm.
    顯示於類別:[機械工程研究所] 博碩士論文

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