English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 80990/80990 (100%)
造訪人次 : 41635316      線上人數 : 1369
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/53735


    題名: 以即時中子繞射量測鎳基合金之應變速率效應;Strain-rate-effect on the Lattice-strain Evolution in Polycrystalline Nickel Alloy
    作者: 吳珊瑀;Wu,Shan-Yu
    貢獻者: 化學工程與材料工程研究所
    關鍵詞: 及時中子繞射;應變效應;楊氏模數;拉伸試驗;Young's modulus;strain rate effect;in-situ neutron diffraction;tensile test
    日期: 2012-07-27
    上傳時間: 2012-09-11 18:12:43 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學
    摘要: 本研究使用 Inconel 617 鎳基合金來探討應變速率效應。Inconel 617是第四代先進核反應系統的熱交換器候選材料之一。這個實驗在美國橡樹嶺國家實驗室進行,利用VULCAN在高能量的spallation中子源和搭配新開發動態讀取軟體來建立一個連續即時量測的環境。一般來說,楊氏模數會隨應變速率增快而增加。此實驗發現不同微觀模數會隨應變速率改變。在微觀下,{111}晶面的模數和巨觀的模數改變趨勢相反。我們搭配分子模擬及電子穿透顯微鏡來比較觀測到的應變速率效應。Inconel 617 is a structural-material candidate for the intermediate heat exchanger used in the Generation IV Reactor Power Plant. It is important to investigate its strain rate effect. We use both the high-flux neutrons at the Spallation Neutron Source and the novel data acquisition with reduction technique at the VULCAN Engineering Diffractometer to create in-situ experimental environment. Upon different strain rates, a change in the lattice modulus was discovered. In general, the greater Young’s moduli are typically in proportional to the bulk strain rate. The trend of the lattice-modulus transition is opposite to the changes of bulk modulus as a function of the strain rates. We also apply molecular dynamics (MD) simulation and transmission electron microscopy (TEM) to compare the measured strain rate effect.
    顯示於類別:[化學工程與材料工程研究所] 博碩士論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    index.html0KbHTML600檢視/開啟


    在NCUIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明