超大型積體電路測試與可測試性設計課程發展---子計畫五：內建式自我測試系統(III)

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題名:	超大型積體電路測試與可測試性設計課程發展---子計畫五：內建式自我測試系統(III)
作者:	蘇朝琴
貢獻者:	中央大學電機工程學系
關鍵詞:	科學教育;電子電機工程類;超大型積體電路測試;電路測試;教材;課程設計;VLSI testing;Electric circuit testing;Teaching material;Curriculum design
日期:	1998-09-01
上傳時間:	2012-10-01 15:17:32 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	本計畫是整合型計畫『超大型積體電路自我測試與可測性設計課程發展』中的子計畫。總計畫的主要目的事發展出一套適用於台灣現有教育環境下電路測試的教材。主要的項目是包括教科書的撰寫，教材的編撰，以及實驗課程的設計與實作。主要的目的是配合國科會晶片製作中心所提供的電路設計的軟硬體，及教育部的超大型積體電路設計課程改進計畫而發展出能與之配合之測試課程的內容與實作的體材。 ; 研究期間 8608 ~ 8707
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[電機工程學系] 研究計畫

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