中大機構典藏-NCU Institutional Repository-提供博碩士論文、考古題、期刊論文、研究計畫等下載:Item 987654321/6654
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    题名: 微光學元件品質評鑑
    作者: 林宇仁;Yu-Ren Lin
    贡献者: 光電科學研究所
    关键词: 像差;DVD;微光學元件
    日期: 2001-06-22
    上传时间: 2009-09-22 10:25:01 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 有鑑於傳統的像差分析大多必須取得干涉條紋,由干涉條紋配合使用Zernike’s多項式,反推像差係數。吾人經由一個簡單的方法分析出像差的係數的相對值,藉以評價光學聚焦系統的品質。我們的方法不須要取得干涉條紋,只需使用光學放大系統配合使用CCD(Charge-Coupled Device)攝影機來拍攝該透鏡的成像點,再利用電腦轉換為光場強度分佈圖,進而分析這光場強度分佈圖,由圖形所顯示的特徵即可求得像差係數。分析的過程是讓電腦來判斷像差係數的量,因為不同的像差係數會有不同的聚焦圖形表徵,藉由我們獨特的SOS(shift or shrink)法,就可以一步一步的逼近出近似的像差係數相對值。經由我們所求得的像差係數再計算DVD讀取頭的MTF曲線,進而達到微光學元件完整的品質評鑑。我們的研究中也一併分析了雷射光的高斯模態。 none
    显示于类别:[光電科學研究所] 博碩士論文

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