CCD Camera量測系統

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題名:	CCD Camera量測系統
作者:	張漢龍;Han-Long Zhang
貢獻者:	光電科學研究所
關鍵詞:	調制傳遞函數;非均勻度;畸變;荷耦合元件;MTF;Nonuniformity;Distortion;CCD
日期:	2001-07-03
上傳時間:	2009-09-22 10:25:13 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學圖書館
摘要:	在過去評定光學成象系統像質的方法裡，除了幾何光學之像差鑑定，較常利用到是點光源檢驗，此方法是根據點光源繞射的照度作進一步處理分析；另一種方法以繞射斑的光強分佈當作鑑別率。幾何光學之像差量測繁瑣並且精度低，而以繞射為基礎的點光源檢驗及鑑別率在定量上也不容易。於是以調制傳遞函數評定系統像質形成了另一個主流。不同的量測，系統架構便不同，如何以同一系統架構量測各種不同的參數以節省許多繁瑣細節及時間也成了一種趨勢。整合系統便是因為此需要而發展出來。隨著工業化的發展，電子產品的製造量測逐漸為線上自動化作業所取代。為了大量生產，許多的量測過程步驟由機器自動檢測不但可節省許多時間，並且可達到定量的標準，而免去人工量測的主觀因素影響。 CCD Camera本身為一電子光學成像系統，在生產線上，主要的量測項目含括以下幾項：一、成像非均勻度；二、光學傳遞函數；三、色度差；四、扭曲畸變量；五、製造及安裝過程所造成的成像旋轉角度。光學傳遞函數是描述一成像系統的成像優劣品質的主要指標，從此函數可以判斷出成像系統的截止頻率以及各空間頻率的成像品質。成像均勻度則是在檢測成像系統對於光度分佈上的品質，以達到人眼所能夠觀測的需求。而色度差則是在評鑑成像系統對各波長的一致性。本文主要在於探討CCD之頻譜特性，並且發展一半自動化CCD量測統合系統，使生產線上之作業能更快速及標準化，並且達到量化的要求。 none
顯示於類別:	[光電科學研究所] 博碩士論文

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