雙單模光纖干涉儀用於微小位移; 量測之研究 雙單模光纖干涉儀用於微小位移 量測之研究

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Title:	雙單模光纖干涉儀用於微小位移;量測之研究雙單模光纖干涉儀用於微小位移量測之研究
Authors:	張之禮;Chih-Li Chang
Contributors:	光電科學研究所
Keywords:	光纖干涉儀;奈米量測;光纖感測;fiber sensing
Date:	2003-03-25
Issue Date:	2009-09-22 10:26:28 (UTC+8)
Publisher:	國立中央大學圖書館
Abstract:	本論文提出了一種新的光纖干涉儀感測系統，我們利用兩條光纖作為感測元件，利用光程的疊加原理，使系統可以獲得雙倍程的光程差，因此檢測靈敏度可以提升一倍。在理論上，此光纖感測器是利用兩條單模光纖遭受橫向位移量而改變了光纖的長度，因此光在光纖中傳遞引入一光程差，而這光程差所造成的相位變化，將會反映在兩條單模光纖輸出端的干涉條紋亮暗變化。在實驗上，我們主要討論光纖受到橫向位移量的影響下，系統與光纖纏繞圈數之間的關係。實驗結果發現，增加光纖的纏繞圈數，確實可以提高系統的靈敏度，若搭配高速的光功率檢測器，則將大幅提什本系統所能量測的動態範圍。
Appears in Collections:	[Graduate Institute of Optics and Photonics] Electronic Thesis & Dissertation

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