English  |  正體中文  |  简体中文  |  Items with full text/Total items : 66984/66984 (100%)
Visitors : 23003991      Online Users : 341
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
Scope Tips:
  • please add "double quotation mark" for query phrases to get precise results
  • please goto advance search for comprehansive author search
  • Adv. Search
    HomeLoginUploadHelpAboutAdminister Goto mobile version


    Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/6850


    Title: 雙頻雷射共光程外差干涉橢圓儀;Two-frequency common-path optical heterodyne ellipsometry
    Authors: 鄭家麟;CHIA-LIN CHENG
    Contributors: 光電科學研究所
    Keywords: 共光程;外差干涉;橢圓儀;common-path;optical heterodyne;ellipsometry
    Date: 2005-11-26
    Issue Date: 2009-09-22 10:30:12 (UTC+8)
    Publisher: 國立中央大學圖書館
    Abstract: 利用線偏振光入射到介質表面,會造成反射光偏振態改變的特性所發展出的量測技術為橢圓偏振儀。本文主要發展出一種創新的雙頻率雷射共光程外差干涉橢圓儀,它在不需要轉動光學元件的條件下,利用電光調製器所產生的雙頻雷射光源之外差干涉訊號為時間起始零點,並連續測量經由介面反射後在四個特定時間點的外差干涉訊號強度,經由所推導的理論可計算出相對應的橢圓參數Ψ(PSI)和Δ(DELTA),而可獲得SiO2/Si標準片薄膜的厚度值。最後由實驗結果可以驗證出本方法的理論推導是正確的。
    Appears in Collections:[光電科學研究所] 博碩士論文

    Files in This Item:

    File SizeFormat
    0KbUnknown488View/Open


    All items in NCUIR are protected by copyright, with all rights reserved.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback  - 隱私權政策聲明