脂膜的X-光片層繞

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題名:	脂膜的X-光片層繞
作者:	洪偉清;Wei-Chin Hung
貢獻者:	物理研究所
關鍵詞:	脂膜;滲透壓;X-光片層繞射;相對濕度;流體態;膠體態
日期:	2000-06-14
上傳時間:	2009-09-22 10:51:38 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學圖書館
摘要:	本文使用單一指向性的多片層平面狀脂膜來產生高階次的X-光繞射，並利用滲透壓外插法解決脂膜擾動帶來的問題，使X-光繞射技術能夠測量到脂膜縱切面的細部結構-厭水區厚度、親水區厚度以及兩區之界面，其解析度可達0.1 A ; 同時也能夠測量到脂膜截面積的熱膨脹係數與等溫壓縮係數。應用這種改良X-光片層繞射/滲透壓技術，本文得到以下的研究成果：(1)發現飽和碳氫鏈脂膜的親水頭部區之厚度Ih 具有不變性，亦即跟脂膜碳鏈長度、溫度、濕度和相態無關 ; 其截面積的熱膨脹係數與壓縮係數僅與相對溫度T-Tm（其中脂膜溫度為T，相變溫度為Tm）有關；(2) 證實流體態脂膜的臨界膨脹是因為有部分區域的脂膜分子，其碳氫鏈有部分變得有序，而增厚該區脂膜，使整個脂膜厚度呈現不均勻而有明顯的起伏漲落，增加脂膜間的距離而造成臨界膨脹;同時脂膜平均厚度也會有少許增加；(3)證實滲透壓對膠體態的脂膜存在一個門檻，高於此門檻，滲透壓才會使脂膜截面積開始收縮。這個門檻效應可以決定水分子吸附在脂膜頭部區的個數、分佈以及被吸附的能量；(4)發現具有飽和碳氫鏈的脂膜，在發生相變時，僅有碳氫鏈結構產生改變，而一旦外接甲烷基於碳氫鏈上，則脂膜的碳氫鏈與頭部區分子群之結構，將會同時改變。
顯示於類別:	[物理研究所] 博碩士論文

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