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    Title: 液晶薄膜光學條紋分析及比熱量測
    Authors: 吳品鈞;Pin-Jiun Wu
    Contributors: 物理研究所
    Keywords: 自由懸浮液晶薄膜;Smectic-L;光學條紋;比熱;對稱性破缺;週期性條紋;蜂窩形條紋;5O.6;Free-Standing Liquid-Crystal thin film;Smectic-L;optical texture;heat capacity;symmetry-breaking;periodic stripe;honeycomb texture;5O.6
    Date: 2000-07-13
    Issue Date: 2009-09-22 10:52:32 (UTC+8)
    Publisher: 國立中央大學圖書館
    Abstract: 二維融化理論預測了低維度系統的相變行為,許多的實驗結果亦紛紛證實其可能性。懸浮液晶超薄膜不僅逼近於二維系統,亦減少了來自於邊界所產生的影響。 nO.m系列的液晶材料具有傳統棒狀分子結構,但其中某些材料擁有豐富的分子傾斜相位,由於此類相位具有明顯雙折射性的性質,在光學上的表象相當多樣化,因此利用偏光顯微鏡可判別液晶薄膜豐富的相位,並且能瞭解及分析液晶分子在結構上排列的形式。比熱的量測可證實物質相變的熱力行為,雖然理論所預測的KT比熱行為仍尚未在實驗中被證實,但在實驗技術不斷進步與適當材料尋找的驅使下,相信未來可以獲得重大的發現。 本篇論文主要的實驗結果如下: (1) 5O.6液晶薄膜被證實具有 Sm-L 相位,由高溫至低溫的相變過程為 Sm-C-Sm-I-Sm-L-Sm-F,與Selinger及Nelson的理論預測的結果相符。週期性條紋的產生,建議為薄膜表面形成 Sm-L 相位而導致對稱性破缺所引起的。 (2) 9O.4液晶薄膜由Sm-A相變至Sm-I為一層接著一層而變化的,並由條紋易於被轉動而變形的現象得知,其層與層之間交互作用力較弱,Sm-I可視為以Sm-A為基底而懸浮於其上。 (3) 7O.7液晶薄膜為截至目前為止較適合用來研究Sm-C-Sm-C'相變行為的材料,其分子傾斜相位之間的相轉換可建議比對於正交型液晶相變的過程,但由於材料本身性質的影響,至今仍尚未證實Sm-C'-Sm-I相變的臨界行為為KT形式。
    Appears in Collections:[物理研究所] 博碩士論文

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