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    Title: 液晶薄膜相位光學鑑定分析與研究
    Authors: 張柏寧;Bo-Ning Zheng
    Contributors: 物理研究所
    Date: 2001-07-16
    Issue Date: 2009-09-22 10:53:36 (UTC+8)
    Publisher: 國立中央大學圖書館
    Abstract: 根據Selinger 與 Nelson 的理論所建立的 Sm-I - Sm-L - Sm-F 相變模型,分別在 FTE1 及 5O.6 的實驗中被發現,而學生藉 由自由懸浮的液晶薄膜來建立一個逼近二維的實驗系統,並利用反射 式偏光顯微鏡來對7O.5、6O.4、5O.5、4O.7 這四種材料進行溫度及 相位變化的觀察。在實驗的結果中,再一次的觀察到與Sm-I - Sm-L - Sm-F 相變模型相符合的相變過程,也在4O.7 極薄膜的實驗中, 觀察到不易見到的7- armed 缺陷,但同材料較厚膜的相變行為卻表 現出與層數明顯相關,且其相變的行為也與Selinger 和 Nelson 的理 論相違背,這是由於層數稍多(約20 層),超出了Selinger 和 Nelson 的理論當初所假設的純二維系統環境所致。而在5O.5、4O.7 這兩種 材料低溫的相變過程中,出現了表層正交相位但內層卻為傾斜相位的 特殊行為,此原因僅能由表面tilt order 及表面crystalline order 相互 競爭來說明,但是至今尚未能完全藉由理論的推論及詳細計算來解 釋。
    Appears in Collections:[物理研究所] 博碩士論文

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