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    題名: 逐步應力加速衰變試驗壽命推估之模擬研究
    作者: 姜曉玲;Xiao-Ling Jiang
    貢獻者: 統計研究所
    日期: 2001-06-15
    上傳時間: 2009-09-22 10:57:56 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 傳統上,常使用加速壽命試驗(ALT)及加速衰變試驗(ADT)去進行 高可靠度產品壽命的評估,而Tseng&Wen (2000)所提出的逐步應力 加速衰變試驗(SSADT)較ALT 及ADT 更能有效縮減試驗時間及試驗的 成本。而在Tseng&Wen (2000)中假設產品品質特性值的誤差項為相 互獨立的常態分配,這與實際的情況並不符合;於是吳明霞(2000) 的文章假設產品的品質特性值是以Wiener 過程進行且利用此模型下 所對應的產品壽命為一轉換型逆高斯分配來探討產品的壽命。 本篇文章將在二種不同衰變模式假設下,一為一般常使用的在Si應力 水準下,考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-βi tα};另一個則是 考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-(α+βi t)},分別進行逐步應 力加速衰變試驗。而在進行逐步應力加速衰變試驗時,分別用二種方 法處理,一為假設產品品質特性值的誤差項為相互獨立的常態分布; 二為假設產品品質特性值是Wiener 過程。且在相同的衰變模式與試 驗條件下分別用兩種方法進行試驗,並比較其結果。目的在幫助我們 了解在不同的衰變模式下進行逐步應力加速衰變試驗,其在二種不同 的產品品質特性值假設下,所得到的結果是否有差異。 none
    顯示於類別:[統計研究所] 博碩士論文

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