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    Title: 使用波前檢測於折射率及色散之量測應用;Using Wavefront Sensor for The Application of Refractive Index and Dispersion
    Authors: 邱宣融;Chiu, Hsuan-Jung
    Contributors: 光電科學與工程學系
    Keywords: 波前檢測;折射率;色散;Wavefront sensor;Refractive index;Dispersion
    Date: 2018-01-26
    Issue Date: 2018-04-13 11:00:57 (UTC+8)
    Publisher: 國立中央大學
    Abstract: 在光學檢測領域中,大致可以分為兩種檢測方式,一為干涉儀系統,量測光程差(optical path difference)並分析干涉條紋的變形量,即可解析待測樣品之資訊;另一為波前檢測技術,如Shack-Hartmann波前感測系統(Shack-Hartmann wavefront sensor),將微透鏡陣列置於CCD前方使光源聚焦於CCD,不同於干涉儀是量測光程差,波前感測系統是量測波前斜率(wavefront slope),從微透鏡之焦長與光點偏移量即可得到波前斜率,藉由波前斜率與波前之關係式,重建出待測樣品之波前,進而分析待測樣品之品質等資訊。
    Shack-Hartmann波前感測系統應用於視光學、像差量測、適應性光學等領域,本論文將利用像差與位移之量測,同時分析待測樣品之品質與折射率,並使用三種可見光波長652.5 nm、517.0 nm與447.8 nm,量測出三種折射率數值,即可使用Buchdahl之色散公式,推算在656.3 nm、587.6 nm及486.1 nm的折射率,並得到阿貝數(Abbe number)。實驗的待測樣品會用CodeV軟體進行模擬,並與Shack-Hartmann波前感測系統量測得到之成像位移與像差進行比較。
    ;在光學檢測領域中,大致可以分為兩種檢測方式,一為干涉儀系統,量測光程差(optical path difference)並分析干涉條紋的變形量,即可解析待測樣品之資訊;另一為波前檢測技術,如Shack-Hartmann波前感測系統(Shack-Hartmann wavefront sensor),將微透鏡陣列置於CCD前方使光源聚焦於CCD,不同於干涉儀是量測光程差,波前感測系統是量測波前斜率(wavefront slope),從微透鏡之焦長與光點偏移量即可得到波前斜率,藉由波前斜率與波前之關係式,重建出待測樣品之波前,進而分析待測樣品之品質等資訊。
    Shack-Hartmann波前感測系統應用於視光學、像差量測、適應性光學等領域,本論文將利用像差與位移之量測,同時分析待測樣品之品質與折射率,並使用三種可見光波長652.5 nm、517.0 nm與447.8 nm,量測出三種折射率數值,即可使用Buchdahl之色散公式,推算在656.3 nm、587.6 nm及486.1 nm的折射率,並得到阿貝數(Abbe number)。實驗的待測樣品會用CodeV軟體進行模擬,並與Shack-Hartmann波前感測系統量測得到之成像位移與像差進行比較。
    Appears in Collections:[光電科學研究所] 博碩士論文

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