使用波前檢測於折射率及色散之量測應用;Using Wavefront Sensor for The Application of Refractive Index and Dispersion

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題名:	使用波前檢測於折射率及色散之量測應用;Using Wavefront Sensor for The Application of Refractive Index and Dispersion
作者:	邱宣融;Chiu, Hsuan-Jung
貢獻者:	光電科學與工程學系
關鍵詞:	波前檢測;折射率;色散;Wavefront sensor;Refractive index;Dispersion
日期:	2018-01-26
上傳時間:	2018-04-13 11:00:57 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學
摘要:	在光學檢測領域中，大致可以分為兩種檢測方式，一為干涉儀系統，量測光程差（optical path difference）並分析干涉條紋的變形量，即可解析待測樣品之資訊；另一為波前檢測技術，如Shack-Hartmann波前感測系統（Shack-Hartmann wavefront sensor），將微透鏡陣列置於CCD前方使光源聚焦於CCD，不同於干涉儀是量測光程差，波前感測系統是量測波前斜率（wavefront slope），從微透鏡之焦長與光點偏移量即可得到波前斜率，藉由波前斜率與波前之關係式，重建出待測樣品之波前，進而分析待測樣品之品質等資訊。 Shack-Hartmann波前感測系統應用於視光學、像差量測、適應性光學等領域，本論文將利用像差與位移之量測，同時分析待測樣品之品質與折射率，並使用三種可見光波長652.5 nm、517.0 nm與447.8 nm，量測出三種折射率數值，即可使用Buchdahl之色散公式，推算在656.3 nm、587.6 nm及486.1 nm的折射率，並得到阿貝數（Abbe number）。實驗的待測樣品會用CodeV軟體進行模擬，並與Shack-Hartmann波前感測系統量測得到之成像位移與像差進行比較。 ;在光學檢測領域中，大致可以分為兩種檢測方式，一為干涉儀系統，量測光程差（optical path difference）並分析干涉條紋的變形量，即可解析待測樣品之資訊；另一為波前檢測技術，如Shack-Hartmann波前感測系統（Shack-Hartmann wavefront sensor），將微透鏡陣列置於CCD前方使光源聚焦於CCD，不同於干涉儀是量測光程差，波前感測系統是量測波前斜率（wavefront slope），從微透鏡之焦長與光點偏移量即可得到波前斜率，藉由波前斜率與波前之關係式，重建出待測樣品之波前，進而分析待測樣品之品質等資訊。 Shack-Hartmann波前感測系統應用於視光學、像差量測、適應性光學等領域，本論文將利用像差與位移之量測，同時分析待測樣品之品質與折射率，並使用三種可見光波長652.5 nm、517.0 nm與447.8 nm，量測出三種折射率數值，即可使用Buchdahl之色散公式，推算在656.3 nm、587.6 nm及486.1 nm的折射率，並得到阿貝數（Abbe number）。實驗的待測樣品會用CodeV軟體進行模擬，並與Shack-Hartmann波前感測系統量測得到之成像位移與像差進行比較。
顯示於類別:	[光電科學研究所] 博碩士論文

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