應用於運算記憶體之前瞻可靠度及測試框架-子計畫三：應用於運算記憶體之老化偵測與緩解技術;Aging Detection and Mitigation Techniques for Computing-In-Memories

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Title:	應用於運算記憶體之前瞻可靠度及測試框架-子計畫三：應用於運算記憶體之老化偵測與緩解技術;Aging Detection and Mitigation Techniques for Computing-In-Memories
Authors:	國立中央大學電機工程學系
Contributors:	國立中央大學電機工程學系
Keywords:	運算記憶體;老化效應;老化分析;老化偵測演算法;老化緩解策略;Computing-In-Memory (CIM);Aging effect;Aging analysis;Aging detection algorithm;Aging mitigation strategy
Date:	2022-07-26
Issue Date:	2022-07-27 11:33:53 (UTC+8)
Publisher:	科技部
Abstract:	此計畫之主要目標為開發抗老化效應的運算記憶體架構與運行策略，來提升運算記憶體的可靠度與生命週期。運算記憶體可以大幅度的提升AI晶片運算效能，因此被視為前瞻半導體產業的重要關鍵技術。本計畫所發展之技術將有效的提升運算記憶體抗老化能力及在使用現場的可靠度，且同時與其他子計畫共同整合開發一完整的運算記憶體之架構、演算法至電路層級可靠度增強技術。本計畫配合政府發展半導體領域之政策，除了有利於前瞻性高科技的人才培養與訓練，所開發技術與專利具有技術領先的優勢，將有助於提升台灣在運算記憶體設計的關鍵技術研發能力，使得IC設計業能夠在此領域取得領先地位，進一步提升台灣的經濟發展。
Relation:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
Appears in Collections:	[Department of Electrical Engineering] Research Project

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