應用於運算記憶體之前瞻可靠度及測試框架-總計畫暨子計畫一：應用於運算記憶體之測試技術;Testing Techniques for Computing-In-Memories

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Title:	應用於運算記憶體之前瞻可靠度及測試框架-總計畫暨子計畫一：應用於運算記憶體之測試技術;Testing Techniques for Computing-In-Memories
Authors:	國立中央大學電機工程學系
Contributors:	國立中央大學電機工程學系
Keywords:	運算記憶體;人工智慧;測試;容錯;可靠度;Computing-In-Memory;artificial intelligence;testing;fault-tolerance;reliability
Date:	2022-07-26
Issue Date:	2022-07-27 11:33:55 (UTC+8)
Publisher:	科技部
Abstract:	學術面：在前瞻議題上開發創新技術，有利於提升台灣在運算記憶體及AI領域在學術研究上的國際能見度。社會面：參與計畫的碩、博士班的研究生畢業後加入職場，可以提升業界在此運算記憶體及AI領域前瞻技術之能力，提高產業競爭力。經濟面：開發前瞻運算記憶體可靠度增強技術，有助臺灣IC設計產業升級，進而提升台灣經濟。
Relation:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
Appears in Collections:	[Department of Electrical Engineering] Research Project

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