運算記憶體之測試與可靠性增強技術-總計畫暨子計畫一：運算記憶體之測試策略與自動化技術;Testing Strategies and Automation Techniques for Computing-In-Memories

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題名:	運算記憶體之測試與可靠性增強技術-總計畫暨子計畫一：運算記憶體之測試策略與自動化技術;Testing Strategies and Automation Techniques for Computing-In-Memories
作者:	李進福;鄭維凱;陳聿廣;黃世旭
貢獻者:	國立中央大學電機工程學系
關鍵詞:	運算記憶體;人工智慧;加速器;測試;可測性設計;內建自我測試;容錯;老化緩解;可靠度;編譯器;Computing-in-memories;artificial intelligence;accelerator;testing;design-for-testability;built-in self-test;fault tolerance;aging mitigation;reliablity;compiler
日期:	2023-07-17
上傳時間:	2024-09-18 14:56:38 (UTC+8)
出版者:	國家科學及技術委員會
摘要:	學術面：在前瞻議題上開發創新技術，有利於提升台灣在運算記憶體及AI領域在學術研究上的國際能見度。社會面：參與計畫的碩、博士班的研究生畢業後加入職場，可以提升業界在此運算記憶體及AI領域前瞻技術之能力，提高產業競爭力。經濟面：開發前瞻運算記憶體測試與可靠度增強技術，有助臺灣IC設計產業升級，進而提升台灣經濟。
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
顯示於類別:	[電機工程學系] 研究計畫

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