中大機構典藏-NCU Institutional Repository-提供博碩士論文、考古題、期刊論文、研究計畫等下載:Item 987654321/3014
English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文笔数/总笔数 : 80990/80990 (100%)
造访人次 : 41255643      在线人数 : 227
RC Version 7.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜寻范围 查询小技巧:
  • 您可在西文检索词汇前后加上"双引号",以获取较精准的检索结果
  • 若欲以作者姓名搜寻,建议至进阶搜寻限定作者字段,可获得较完整数据
  • 进阶搜寻


    jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/3014


    题名: 氧化鋅薄膜於超音波聚焦噴墨裝置之設計分析與製作;Design and Fabrication of Ultrasonic Focusing Printing Device with ZnO Thin Film
    作者: 巫宗翰;Tzung-han Wu
    贡献者: 機械工程研究所
    关键词: 菲涅爾透鏡;壓電換能器;氧化鋅薄膜;超音波噴墨;Fresnel lens;Piezoelectric transducer;ZnO film;Ultrasonic ejector
    日期: 2009-06-30
    上传时间: 2009-09-21 12:03:20 (UTC+8)
    出版者: 國立中央大學圖書館
    摘要: 超音波聚焦噴墨技術為近幾年研究發展的一種新穎之噴墨機制。不同於熱氣泡式以及壓電式噴墨法,超音波聚焦噴墨法不需噴嘴及加熱即可達到噴墨之效果。本研究旨在製造並且分析超音波聚焦噴墨裝置中之兩個主要元件:菲涅爾透鏡與氧化鋅換能器。研究中我們使用微機電製程之技術製作操作頻率為100 MHz與200 MHz之菲涅爾聚焦透鏡。透過表面輪廓分析儀與掃描式電子顯微鏡之量測,可觀測出所製作之菲涅爾聚焦透鏡具有三階與四階之結構。在換能器方面,我們使用射頻磁控式濺鍍法來沉積氧化鋅薄膜,並製作結構為 Al/ZnO/Pt/Ti/SiO2/Si 之壓電換能器。將所製作之氧化鋅換能器進行X光繞射儀量測以觀察氧化鋅薄膜之晶體結構。並藉由觀測X光繞射圖中之c軸方向以獲得濺鍍時合適之基板溫度。最後,使用安捷倫公司所生產型號為4395A之阻抗分析儀量測厚度分別為15.31、20.9與24.9 μm氧化鋅薄膜之阻抗值,並証實其共振頻率分別為186.5、131.5與112.2 MHz。 Ultrasonic focusing printing technology is a novel droplet ejection mechanism which has been developed in recent years. Different to the thermal-bubble and piezoelectric printing methods, the ultrasonic focusing printing method ejects droplets required neither nozzle nor heat. The study investigates the fabrication of ultrasonic focusing printing device, especially two main components including Fresnel lens and ZnO transducer. The binary Fresnel lenses with operating frequency at 100 MHz and 200 MHz are fabricated by MEMS technology. The three-level and four-level structural Fresnel lens can be observed by using α-step and SEM. In the aspect of transducer, the ZnO thin films are deposited by RF magnetron sputtering to construct an Al/ZnO/Pt/Ti/SiO2/Si structure piezoelectric transducer. XRD measurement is performed to characterize the crystal structure of ZnO thin films and find suitable substrate temperature for getting well c-axis orientation. The impedance of 15.31, 20.9, and 24.9 μm ZnO transducers are measured by using Agilent 4395A impedance analyzer. It is confirmed that their resonant frequencies of 186.5, 131.5, and 112.2 MHz, respectively.
    显示于类别:[機械工程研究所] 博碩士論文

    文件中的档案:

    档案 大小格式浏览次数


    在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

    社群 sharing

    ::: Copyright National Central University. | 國立中央大學圖書館版權所有 | 收藏本站 | 設為首頁 | 最佳瀏覽畫面: 1024*768 | 建站日期:8-24-2009 :::
    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 隱私權政策聲明