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    題名: Marking oxide films on the section of Al-XSi alloys by ultrasonic-vibration treatment
    作者: Chen,YJ;Huang,LW;Shih,TS
    貢獻者: 機械工程研究所
    關鍵詞: ACOUSTIC CAVITATION SERIES
    日期: 2003
    上傳時間: 2010-07-06 16:31:27 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: Oxide films entrapped in Al-XSi alloys with an X from 0% to 13% are different, and can be identified by the presented ultrasonic-vibration treatment. After polishing and ultrasonic-vibration treatment, the surfaces of samples or castings then show differe
    關聯: MATERIALS TRANSACTIONS
    顯示於類別:[機械工程研究所] 期刊論文

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