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    題名: Efficient block-level connectivity verification algorithms for embedded memories
    作者: Li,JF
    貢獻者: 電機工程研究所
    關鍵詞: FAULT MODEL;CIRCUITS
    日期: 2004
    上傳時間: 2010-07-06 18:26:14 (UTC+8)
    出版者: 中央大學
    摘要: A large memory is typically designed with multiple identical memory blocks for reducing delay and power. The circuit verification of individual memory blocks can be effectively handled by the Symbolic Trajectory Evaluation (STE) approach. However, if mult
    關聯: IEICE TRANSACTIONS ON FUNDAMENTALS OF ELECTRONICS COMMUNICATIONS AND COMPUTER SCIENCES
    顯示於類別:[電機工程研究所] 期刊論文

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