Analysis of application of the IDDQ technique to the deep sub-micron VLSI testing

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題名:	Analysis of application of the IDDQ technique to the deep sub-micron VLSI testing
作者:	Lu,CW;Lee,CL;Su,CC;Chen,JE
貢獻者:	電機工程研究所
日期:	2002
上傳時間:	2010-07-06 18:30:49 (UTC+8)
出版者:	中央大學
摘要:	In this work, IDDQ current for the deep sub-micron VLSI in year 2011 is estimated with a statistical approach according to the International Technology Roadmap for Semiconductors 1999 Edition considering process variations and different input vectors. The
關聯:	JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
顯示於類別:	[電機工程研究所] 期刊論文

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