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    題名: 亂相編碼之3D敏感度與其應用於微物成像之研究(II);The Study of 3-D Sensitivity of Random Phase Encoding and the Application to Image of Micro-Objects(II)
    作者: 孫慶成
    貢獻者: 光電科學研究所
    關鍵詞: 3D敏感性分析;亂相編碼;微物成像;3-D sensitivity;Random phase encoding;Micro-object imaging;資訊科學--軟體
    日期: 2002-07-01
    上傳時間: 2010-11-04 09:45:15 (UTC+8)
    出版者: 行政院國家科學委員會
    摘要: 研究期間：9008 ~ 9107
    關聯: 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
    顯示於類別:[光電科學研究所] 研究計畫

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