以單探針量測法探討奈米碳管沉積的電性分佈之研究; Electrical Variation of Deposited Carbon Nanotubes Studied by One-Probe Characterization Techniques

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Title:	以單探針量測法探討奈米碳管沉積的電性分佈之研究;Electrical Variation of Deposited Carbon Nanotubes Studied by One-Probe Characterization Techniques
Authors:	粘正勳
Contributors:	物理學系
Keywords:	物理類
Date:	2007-07-01
Issue Date:	2010-12-21 17:21:35 (UTC+8)
Publisher:	行政院國家科學委員會
Abstract:	「奈米碳管」的導電特性，是它最獨特的性質之一，同時也對應到多項廣受期待的應用。然而，對於個別碳管的電性測定，目前似乎只有嚴苛環境要求下的掃瞄探針取譜術，或者製程繁複的微影蝕刻四電極法。否則，就是以顯微拉曼光譜術針對微米區域內的碳管群落求得平均的電性瞭解。在本研究計畫中，則是利用我們新近開發於掃瞄電子顯微鏡的「單探針電性量測」技術，來探討不同的沉積方法(譬如外加電場與否)如何影響奈米碳管在電性方面的空間分佈，進而評估篩選碳管電性的有效技術。兩年期間的研究可分成兩個主題：其一為驗證上述的單探針技術是否適用於個別碳管的電性量測，因而能夠快速檢定出碳管群落中不同區域的導電特性；其二則是探討沉積奈米碳管的不同方法，是否對其導電特性造成不同的的空間分佈。我們首先將於第一年裡，致力於「單探針電性量測系統」的添設(建置於校內或透過校際合作管道而得以使用的掃瞄電子顯微鏡機台內)。同時，利用電子束微影技術等方式，製作不同導電特性的奈米尺度標準樣品，以供該系統進行定性和定量的校正，並據以研判碳管量測結果所對應的電性。透過合作而得以使用的顯微拉曼光譜術，也將提供可資交叉比對的數據。第二年的研究重心，則在於運用第一年的成果，而以單探針的量測技術來檢定分析不同沉積方法(譬如：電泳和介電泳等) 所產生的碳管電性分佈。研究期間：9508 ~ 9607
Relation:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
Appears in Collections:	[Department of Physics] Research Project

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