利用透明凹陷電極及底層反射金屬膜分別改善兩種金屬-半導體-金屬光偵測器的性能;Using Transparent Recessed Electrode and Bottom Reflective Metal Layer to Improve the Performances of Two Metal-Semiconductor-Metal Photodetectors Individually

NCU Institutional Repository > 資訊電機學院 > 電機工程學系 > 研究計畫 > Item 987654321/57316

jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/57316

题名:	利用透明凹陷電極及底層反射金屬膜分別改善兩種金屬-半導體-金屬光偵測器的性能;Using Transparent Recessed Electrode and Bottom Reflective Metal Layer to Improve the Performances of Two Metal-Semiconductor-Metal Photodetectors Individually
作者:	洪志旺
贡献者:	中央大學電機工程學系
关键词:	光電工程;透明凹陷電極;非晶質膜;反射金屬層;金屬-半導體-金屬光偵測器;Transparent recessed electrode;Amorphous film;Reflective metal layer;Metal-semiconductor-metal photodetector (MSM-PD)
日期:	1999-09-01
上传时间:	2012-10-01 15:18:18 (UTC+8)
出版者:	行政院國家科學委員會
摘要:	研究期間 8708 ~ 8807
關聯:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
显示于类别:	[Department of Electrical Engineering] Research Project

文件中的档案:

档案	描述	大小	格式	浏览次数
index.html		0Kb	HTML	311	检视/开启

在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

社群 sharing