微光學元件品質評鑑

NCU Institutional Repository > 理學院 > 光電科學研究所 > 博碩士論文 > Item 987654321/6654

jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/6654

题名:	微光學元件品質評鑑
作者:	林宇仁;Yu-Ren Lin
贡献者:	光電科學研究所
关键词:	像差;DVD;微光學元件
日期:	2001-06-22
上传时间:	2009-09-22 10:25:01 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學圖書館
摘要:	有鑑於傳統的像差分析大多必須取得干涉條紋，由干涉條紋配合使用Zernike’s多項式，反推像差係數。吾人經由一個簡單的方法分析出像差的係數的相對值，藉以評價光學聚焦系統的品質。我們的方法不須要取得干涉條紋，只需使用光學放大系統配合使用CCD（Charge-Coupled Device）攝影機來拍攝該透鏡的成像點，再利用電腦轉換為光場強度分佈圖，進而分析這光場強度分佈圖，由圖形所顯示的特徵即可求得像差係數。分析的過程是讓電腦來判斷像差係數的量，因為不同的像差係數會有不同的聚焦圖形表徵，藉由我們獨特的SOS(shift or shrink)法，就可以一步一步的逼近出近似的像差係數相對值。經由我們所求得的像差係數再計算DVD讀取頭的MTF曲線，進而達到微光學元件完整的品質評鑑。我們的研究中也一併分析了雷射光的高斯模態。 none
显示于类别:	[光電科學研究所] 博碩士論文

文件中的档案:

档案	大小	格式	浏览次数

在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

社群 sharing