中大機構典藏-NCU Institutional Repository-提供博碩士論文、考古題、期刊論文、研究計畫等下載:Item 987654321/88860
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    題名: 應用於運算記憶體之前瞻可靠度及測試框架-總計畫暨子計畫一:應用於運算記憶體之測試技術;Testing Techniques for Computing-In-Memories
    作者: 國立中央大學電機工程學系
    貢獻者: 國立中央大學電機工程學系
    關鍵詞: 運算記憶體;人工智慧;測試;容錯;可靠度;Computing-In-Memory;artificial intelligence;testing;fault-tolerance;reliability
    日期: 2022-07-26
    上傳時間: 2022-07-27 11:33:55 (UTC+8)
    出版者: 科技部
    摘要: 學術面:在前瞻議題上開發創新技術,有利於提升台灣在運算記憶體及AI領域在學術研究上的國際能見度。 社會面:參與計畫的碩、博士班的研究生畢業後加入職場,可以提升業界在此運算記憶體及AI領域前瞻技術之能力,提高產業競爭力。 經濟面:開發前瞻運算記憶體可靠度增強技術,有助臺灣IC設計產業升級,進而提升台灣經濟。
    關聯: 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
    顯示於類別:[電機工程學系] 研究計畫

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