運算記憶體之測試與可靠性增強技術-子計畫三：運算記憶體之老化偵測、緩解策略與自動化技術;Aging Detection&Mitigation Strategies and Automation Techniques for Computing-In-Memories

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Title:	運算記憶體之測試與可靠性增強技術-子計畫三：運算記憶體之老化偵測、緩解策略與自動化技術;Aging Detection&Mitigation Strategies and Automation Techniques for Computing-In-Memories
Authors:	陳聿廣
Contributors:	國立中央大學電機工程學系
Keywords:	運算記憶體;老化偵測及緩解;設計空間探索;自動化工具開發;運算記憶體編譯器設計;Computing-In-Memory(CIM);Aging detection and tolerance;Design Space Exploration(DSE);EDA tool developing;memory compiler for CIM
Date:	2023-07-17
Issue Date:	2023-07-18 14:42:18 (UTC+8)
Publisher:	國家科學及技術委員會
Abstract:	本計畫針對「運算記憶體」這一在AI世代備受矚目的新興領域進行研究，並就運算記憶體電路遭受老化現象而導致的可靠度及壽命下降問題進行解決，預期針對不同的運算記憶體電路提出適切的老化偵測及緩解策略，同時開發設計空間探索方法及自動化工具，以優化運算記憶體電路的可靠度及壽命。本計畫所發展之技術將是使運算記憶體能商品化及量產不可或缺的關鍵技術，同時總計畫規劃研發的運算記憶體編譯器，亦將成為採用運算記憶體的AI加速器設計中，不可或缺的重要工具。本計畫配合政府發展半導體領域之政策，除了有利於前瞻性高科技的人才培養與訓練，所開發技術與專利具有技術領先的優勢，將有助於提升台灣在運算記憶體設計的關鍵技術研發。
Relation:	財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
Appears in Collections:	[Department of Electrical Engineering] Research Project

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