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    題名: 數位運算記憶體設計與測試自動化( I );Design and Test Automation of Digital Cims( I )
    作者: 李進福;黃世旭;許鈞瓏;陳聿廣
    貢獻者: 國立中央大學電機工程學系
    關鍵詞: 人工智慧;數位運算記憶體;設計自動化;測試;測試自動化;AI;digital computing-in memories;design automation;testing;test automation
    日期: 2024-09-27
    上傳時間: 2024-09-30 17:22:47 (UTC+8)
    出版者: 國家科學及技術委員會(本會)
    摘要: 計畫主要開發應用於數位運算記憶體之設計與測試自動化技術，預計對學術、社會及經濟之影響如下: 學術面：在前瞻議題上開發創新技術，有利於提升台灣在運算記憶體及AI領域在學術研究上的國際能見度。 社會面：參與計畫的碩、博士班的研究生畢業後加入職場，可以提升業界在此運算記憶體及AI領域前瞻技術之能力，提高產業競爭力。 經濟面：有助臺灣IC設計產業升級、進而提升台灣經濟。
    關聯: 財團法人國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心
    顯示於類別:[電機工程學系] 研究計畫

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