利用元件庫資訊估測閘級階層設計的電流波形之研究; On Current Waveform Estimation of Gate Level Designs Using Cell Library Information

NCU Institutional Repository > 資訊電機學院 > 電機工程研究所 > 博碩士論文 > Item 987654321/9828

jsp.display-item.identifier=請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncu.edu.tw/handle/987654321/9828

题名:	利用元件庫資訊估測閘級階層設計的電流波形之研究;On Current Waveform Estimation of Gate Level Designs Using Cell Library Information
作者:	林士哲;Shr-Je Lin
贡献者:	電機工程研究所
关键词:	閘級階層;元件庫資訊;電流波形;gate level;cell library;current waveform
日期:	2005-07-06
上传时间:	2009-09-22 11:57:13 (UTC+8)
出版者:	國立中央大學圖書館
摘要:	目前高階電流模型這個研究方向開始受到重視，因為一旦可以快速的估計出電流的大小及變化情況，應用在電路設計中，將可用來估算電路中雜訊的大小，像是IR-drop，或是SSN (simultaneous switch noise)效應；這些會影響電路的效能或功能的雜訊，都可藉由電流的估計，來估算雜訊的大小。另外，對於power line的大小及佈局等等，都有很大的幫助。在現今SOC(system-on-chip)時代，隨著電路的複雜度增加，模擬所花費的時間也隨著增加，為了加快模擬速度，必須把模擬的階層往上提高，為了同時確保一定的精準度與速度，因此選擇操作在閘極階層(gate-level)來做模擬。本篇論文提出一個新的想法，利用一些簡單的MOS特性，並經由現有的元件庫資訊，經過簡單運算就能準確的估計出電流波形。而此論文的最終目標，想把此想法應用到現今現有的一些模擬軟體，因為此方法所需的資料，皆可由元件庫的資訊中取得，只需要外掛一些搜尋與計算的程式即可，不必耗費相當冗長的時間來跑SPICE的模擬，就可快速的從閘級模擬中獲得雜訊資料，這將會是個非常簡單且實用的方法。
显示于类别:	[電機工程研究所] 博碩士論文

文件中的档案:

档案	大小	格式	浏览次数

在NCUIR中所有的数据项都受到原著作权保护.

社群 sharing

数据加载中.....