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类别	日期	题名	作者
[電機工程研究所] 期刊論文	2008	A built-in redundancy-analysis scheme for random access memories with two-level redundancy	Chang,Da-Ming; Li,Jin-Fu; Huang,Yu-Jen
[電機工程研究所] 期刊論文	2008	A Multi-Code Compression Scheme for Test Time Reduction of System-on-Chip Designs	Shieh,Hong-Ming; Li,Jin-Fu
[電機工程研究所] 期刊論文	2007	An efficient diagnosis scheme for RAMs with simple functional faults	Li,Jin-Fu; Huang,Chao-Da
[電機工程研究所] 期刊論文	2007	ProTaR: An infrastructure IP for repairing RAMs in system-on-chips	Huang,Chao-Da; Li,Jin-Fu; Tseng,Tsu-Wei
[電機工程研究所] 期刊論文	2007	Raisin: Redundancy analysis algorithm simulation	Huang,Rei-Fu; Li,Jin-Fu; Yeh,Jen-Chieh; Wu,Cheng-Wen
[電機工程研究所] 期刊論文	2007	Testing ternary content addressable memories with comparison faults using march-like tests	Li,Jin-Fu
[電機工程研究所] 期刊論文	2007	Transparent-test methodologies for random access memories without/with ECC	Li,Jin-Fu