參考文獻 |
Chapter 1
[1] K. Badeker, Ann. Phys. (Leipzig) 22 (1907) 749
[2] C. H. Kuo, S. J. Chang, Y. K. Su, R. W. Chuang, C. S. Chang, L. W. Wu, W. C. Lai, J. F. Chen, J. K. Sheu, H. M. Lo and J. M. Tsai, Mater. Sci. Eng. B-Solid State Mater. Adv. Technol., B106, 69–72, (2004)
[3] Y. H. Lin, Y. S. Liu, and C. Y. Liu, IEEE Photonics Technology Letters, 22 (19) 1443-1445 (2010)
[4] S. Y. Kim and J. L. Lee, Electrochem. Solid-State Lett., 7 (5) G102-G104 (2004)
[5] C. H. Cheng and J. M. Ting, Thin Solid Films, 516, 203-207 (2007)
[6] C. H. Kuo, S. J. Chang, Y. K. Su, R.W. Chuang, C. S. Chang, L. W. Wu, W. C. Lai, J. F. Chen, J. K. Sheu, H. M. Lo, and J. M. Tsai, Materials Science and Engineering B 106, 69-72 (2004)
[7] Y. C. Lin, S. J. Chang, Y. K. Su, T. Y. Tsai, C. S. Chang, S. C. Shei, C. W. Kuo, and S. C. Chen, Solid-State Electronics 47, 849-853 (2003)
[8] T. H. Chen, T. J. Wu, J. Y. Chen, and Y. Liou, J. Appl. Phys., 99, 114515 (2006)
[9] J. D. Hwang, C. C. Lin. And W. L. Chen, J. Appl. Phys., 100, 044908 (2006)
[10] N. Kikuchi, E. Kusano, E. Kishio, and A. Kinbara, Vacuum, 66, 365-371 (2002)
[11] Y. C. Lin, S. J. Chang, Y. K. Su, T. Y. Tsai, C. S. Chang, S. C. Shei, S. J. Hsu, C. H. Liu, U. H. Liaw, S. C. Chen, and B. R. Huang, IEEE Photonics Technology Letters, 14 (12) 1668-1670(2002)
[12] J. O. Song, D. S. Leem, J. S. Kwak, O. H. Nam, Y. Park, and T. Y. Seong, IEEE Photonics Technology Letters, 16 (6) 1450-1452 (2004)
[13] S. J. Kim, IEEE Photonics Technology Letters, 17 (8) 1617-1619 (2005)
[14] R. H. Horng, D. S. Wuu, Y. C. Lien, and W. H. Lan, Appl. Phys. Lett., 79 (18), 2925-2927 (2001)
[15] R. H. Horng, C. C. Yang, J. Y. Wu, S. H. Huang, C. E. Lee, and D. S. Wuu, Appl. Phys. Lett., 86, 221101 (2005)
[16] J. K. Kim, T. G., E. F. Schubert, J. Q. Xi, H. Luo, J. Cho, C. Sone, and Y. Park, Appl. Phys. Lett., 88, 013501 (2006)
[17] S. J. Chang, C. F. Shen, W. S. Chen, C. T. Kuo, T. K. Ko, S. C. Shei, and J. K. Sheu, Appl. Phys. Lett., 91, 013504 (2007)
[18] K. Y. Lee, C. Becker, M. Muske, F. Ruske, S. Gall, and B. Rech, Appl. Phys. Lett., 91, 241911 (2007)
[19] Y. M. Chiang, D. P. Birnie, III, W. D. Kingery, Physical ceramics: Principles for Ceramic Science and Engineering
[20] T. Minami, H. Sonoara, T. Kakumu, and S. Takata, Thin Solid Films 270, 37-42 (1995)
[21] N. Al-Dahoudi and M. A. Aegerter, Thin Solid Films, 502, 193-197 (2006)
[22] G. Goncalves, E. Elangovan, P. Barquinha, L. Pereira, R. Martins, and E. Fortunato, Thin Solid Films, 515, 8562-8566 (2007)
[23] T. Minami and T. Miyata, Thin Solid Films, 517, 1474–1477 (2008)
[24] R. G. Gordan, MRS Bulletin/August , 52-56 (2000)
[25] The U.S. Geological Survey, Mineral Commodity Profile- Indium (2006)
[26] T. Minami, Semicond. Sci. Technol. 20, S35–S44 (2005)
Chapter 3
[1] R. Krause-Rehberg and H. S. Leipner, Positron annihilation in Semiconductors: Defect Studies (1998)
[2] A. Janotti et al., Phys. Rev. B 81, 085212 (2010)
[3] H. E. Schaefer, Phys. Stat. Sol A, 102, 47 (1987)
[4] A. Uedono et al., J. Appl. Phys., 92 (5) 2697-2702 (2002)
[5] R. B. H. Tahar, T. Ban, Y. Ohya, and Y. Takahashi, J. Appl. Phys., 83 (5) 2631-2645 (1998)
[6] M. J. Puska, C. Corbel, and R. M. Nieminen, Phys. Rev. B 41, 9980–9993 (1990)
[7] R. W. Siegel, Ann. Rev. Mater. Sci., 10, 393-425 (1980)
[8] S. Mantl, W. Triftshauser, Phys. Rev. B 17, 1645–1652 (1978)
[9] W. Brandt and R. Paulin, Phys. Rev. B 5, 2430-2435 (1972)
Chapter 4
[1] J. F. Baumard and E. Tani, J. Chem. Phys. 67 (3), 857 (1977)
[2] T. W. Chiu, K. Tonooka, and N. Kikuchi, Thin Solid Films, 518, 7441-7444 (2010)
[3] J. P. Lin, and J. M. Wu, Appl. Phys. Lett., 92, 134103 (2008)
[4] G. Goncalves et al., Thin Solid Films, 515, 8562-8566 (2007)
[5] J. Lee, Thin Solid Films, 516, 1386-1390 (2008)
[6] A. Y. Oral, Z. B. Bahsi, an dM. H. Aslan, Appl. Surf. Sci., 253, 4593-4598 (2007)
[7] Y. C. Lin, J. H. Jiang, and W. T. Yen, Appl. Surf. Sci., 255, 3629-3634 (2009)
[8] K. Tominaga et al., Vacuum, 66, 511-515 (2002)
[9] John C. C. Fan and John B. Goodenough, J. Appl. Phys., 48 (8), 3524-3530 (1997)
[10] Y. M. Chiang, D. P. Birnie, W. D. Kingery, Physical Ceramics: Principles for Ceramic Science and Engineering
[11] C. Korber et al., Physical Review B 81, 165207 (2010)
[12] G. Rayner-Canham and T. Overton, Descriptive Inorganic Chemistry
[13] J. Robertson, J. Phys. C: Solid State Phys. 12, 4767 (1979)
[14] L. Soriano et al., Solid state communication, 93 (8), 659-665 (1995)
[15] K. Yang et al., Physical Review B 81, 033202 (2010)
[16] L. M. Tang et al., J. Appl. Phys., 107, 083704-1-083704-5 (2010)
[17] R. Ramprasad et al., Microelectron. Eng., 69, 190-194 (2003)
[18] S. J. Clark and J. Robertson, Appl. Phys. Lett., 94, 022902-1-022902-3 (2009)
Chapter 5
[1] D. A. Steigerwald, J. C. Bhat, D. Collins, R. M. Fletcher, M. O. Holcomb, M. J. Ludowise, P. S. Martin, and S. L. Rudaz, IEEE J. Sel. TOP. Quantum Electron. 8, 310 (2002).
[2] T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. Denbaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett., 84, 855 (2004).
[3] C. L. Lin, S. J. Wang, and C. Y. Liu, Electrochem. Solid-State Lett., 8, G265-G267 (2005).
[4] H. W. Jang and J. L. Lee, Appl. Phys. Lett., 85, 5920 (2004).
[5] S. Y. Kim, J. L. Lee, Electrochem. Solid-State Lett., 7, G102-G104 (2004).
[6] H. Kim, A. Piqu’e, J. S. Horwitz, H. Murata, Z. H. Kafafi, C. M. Gilmore, D. B. Chrisey, Thin Solid Films, 377-378 (2000).
[7] Hiroshi Morikawa, Hiroki Kuratz and Miya Fujita, J. Electron Microsc., 49(1), 67-72 (2000).
[8] E. Bertran, C. Corbella, M. Vives, A. Pinyol, C. Person, I. Porqueras, Solid State Ion., 265, 139-148, (2003).
[9] C. M. Liu, W. L. Liu, W. J. Chen, S. H. Hsieh, T. K. Tsai, and L. C. Yang, J. Electrochem. Soc., 152, G234-G239 (2005).
[10] C. J. Tun, J. K. Sheu, B. J. Pong, M. L. Lee, M. Y. Lee, C. K. Hsieh, C. C. Hu and G. C. Chi, IEEE Photonic Tech L, 18, No. 1 (2006)
[11] K. H. Kim, Z. Y. Fan, M. Khizar, M. L. Nakarmi, J. Y. Lin, and H. X. Jiang, Appl. Phys. Lett., 85, 4777 (2004)
[12] C. H. Kuo, S. J. Chang, Y. K. Su, R. W. Chuang, C. S. Chang, L. W. Wu, W. C. Lai, J. F. Chen, J. K. Sheu, H. M. Lo and J. M. Tsai, Mater. Sci. Eng. B-Solid State Mater. Adv. Technol., B106, 69–72, (2004)
[13] S. H. Su, C. C. Hu, M. Yokoyama, R. S. Shieh, and S. M. Chen, J. Electrochem. Soc., 154 (5) J155-J158 (2007)
[14] S. Y. Kim and J. L. Lee, Electrochem. Solid State Lett., 7, G102-G104 (2004).
[15] T. A. Gessert, Y. Yoshida, C. C. Fesenmaier, and T. J. Coutts, J. Appl. Phys., 105, 083547 (2009)
[16] J. O. Song, J. S. Kwak, Y. Park, T. Y. Seong, Appl. Phys. Lett., 86, 213505 (2005)
[17] J. C. Kim, C. H. Shin, C. W. Jeong, Y. J. Kwon, J. H. Park and D. Kim, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B-Beam Interact. Mater. Atoms, 268(2), 131-134 (2010)
[18] S. Chandramohan, A. Kanjilal, T. Strache, J. K. Tripathi, S. N. Sarangi, R. Sathyamoorthy and T. Som, Appl. Surf. Sci., 256, 465-468 (2009)
[19] S. Chhajed, Y. Xi, Y.-L. Li, Th. Gessmann, and E. F. Schubert, J. Apply. Phys., 97, 054506 (2005)
[20] Y. Xi, J. Q. Xi, Th. Gessmann, J. M. Shah, J. K. Kim, E. F. Schubert, A. J. Fischer, M. H. Crawford, K. H. A. Bogart, and A. A. Allerman, Appl. Phys. Lett., 86, 031907 (2005)
|