博碩士論文 87323011 完整後設資料紀錄

DC 欄位 語言
DC.contributor機械工程學系zh_TW
DC.creator陳君明zh_TW
DC.creatorChun-Ming Chenen_US
dc.date.accessioned2003-7-15T07:39:07Z
dc.date.available2003-7-15T07:39:07Z
dc.date.issued2003
dc.identifier.urihttp://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN=87323011
dc.contributor.department機械工程學系zh_TW
DC.description國立中央大學zh_TW
DC.descriptionNational Central Universityen_US
dc.description.abstract產品在運輸、搬運或使用過程中承受到各種形式的衝擊,隨著電子性產品小型輕薄化,衝擊對電子性產品產生的影響相當大。本研究對TFT-LCD模組進行衝擊分析及試驗驗証,由於衝擊時間十分短暫,要去了解其受衝擊時反應十分不易,研究中採用兩種方式—衝擊試驗驗証與有限元素模擬分析,探討TFT-LCD模組受衝擊時之動態行為,藉由數值模擬與實驗兩者相互印証,以對結構設計提出適切改善。為了使TFT-LCD模組設計能達到在模具開發製作前就加以評估的目的,研究中使用有限元素軟體LS-DYNA對TFT-LCD模組進行衝擊模擬,預測TFT-LCD模組衝擊時整體的力學行為,並與實驗結果比較,進行分析模型修正;隨後TFT-LCD模組進行設計改善,建立TFT-LCD模組設計的分析評估方式。 衝擊試驗是了解產品能承受多大衝擊的指標,能承受的衝擊值愈大,產品的可靠度愈高,研究中對產品進行不同方向衝擊,探討所造成的衝擊響應,藉由衝擊試驗找出產品結構上的弱點進行改善,進而提高產品的可靠度。試驗結果不僅可以了解TFT-LCD模組可能發生的變形,並驗證有限元素分析模式的合理性。由TFT-LCD模組有限元素分析過程中,發現金屬前框在長邊中間受衝擊時有高應力區現象,和試驗結果變形發生的地方吻合,進而以有限元素分析對此進行設計改善,消除原先高應力區現象。 本文以試驗及模擬,建立了TFT-LCD模組設計的評估方式,同時應用此兩種實驗與數值模擬方法,可以有效地進行TFT-LCD模組設計,有助於縮短開發時程,提高產品競爭力。zh_TW
DC.subjectLCDzh_TW
DC.subject衝擊zh_TW
DC.subjectLS-DYNAzh_TW
DC.subjectshocken_US
DC.subjectLS-DYNAen_US
DC.subjectLCDen_US
DC.titleTFT-LCD衝擊模擬分析及驗證研究zh_TW
dc.language.isozh-TWzh-TW
DC.type博碩士論文zh_TW
DC.typethesisen_US
DC.publisherNational Central Universityen_US

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