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語言 |
| DC.contributor | 機械工程學系 | zh_TW |
| DC.creator | 劉哲銘 | zh_TW |
| DC.creator | C-M Liu | en_US |
| dc.date.accessioned | 2000-7-17T07:39:07Z | |
| dc.date.available | 2000-7-17T07:39:07Z | |
| dc.date.issued | 2000 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN=87323083 | |
| dc.contributor.department | 機械工程學系 | zh_TW |
| DC.description | 國立中央大學 | zh_TW |
| DC.description | National Central University | en_US |
| dc.description.abstract | 本研究也針對利用熱交換器法所生長出之Sapphire晶體作一系列的檢測，例如利用穿透式及反射式光學顯微鏡（Optical-Microscope）及掃描式電子顯微鏡（Scanning-Electron-Microscope）觀察晶體之微觀組織，比較在不同的生長條件下其結構組織之不同，並與品質良好之氧化鋁單晶做比較，同時探討晶體中缺陷產生之原因，另外還利用能譜儀（Energy-Dispersive-Spectrometer）來對晶體之成分做分析，以確定污染物之種類及分佈狀況，且為了要了解晶體缺陷對晶體硬度之影響，還利用微硬度測試儀來測試所生長出之晶體硬度，比較與單晶的差異，希望能藉這些檢測來作為改善晶體品質之依據，以期能生長出高品質、高純度之晶體。 | zh_TW |
| DC.subject | 熱交換器法 | zh_TW |
| DC.subject | 氧化鋁 | zh_TW |
| DC.subject | 晶體 | zh_TW |
| DC.subject | HEM | en_US |
| DC.subject | Sapphire | en_US |
| DC.subject | Crystal | en_US |
| DC.title | 以熱交換器法生長氧化鋁單晶與晶體檢測 | zh_TW |
| dc.language.iso | zh-TW | zh-TW |
| DC.type | 博碩士論文 | zh_TW |
| DC.type | thesis | en_US |
| DC.publisher | National Central University | en_US |