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DC.contributor | 物理學系 | zh_TW |
DC.creator | 施嘉宏 | zh_TW |
DC.creator | Jia-Hong Sh | en_US |
dc.date.accessioned | 2001-7-12T07:39:07Z | |
dc.date.available | 2001-7-12T07:39:07Z | |
dc.date.issued | 2001 | |
dc.identifier.uri | http://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN= 88222024 | |
dc.contributor.department | 物理學系 | zh_TW |
DC.description | 國立中央大學 | zh_TW |
DC.description | National Central University | en_US |
dc.description.abstract | 出的理論光譜。分析碲硒化鋅合金(ZnSe1-xTex)在室溫下,能隙隨合
金濃度組成的變化有一大的彎曲參數,且能隙在合金濃度x=0.5-0.6
存在著極小值。光譜的寬化參數隨合金濃度組成的變化在x=0.18 有
著極大值。及光譜的強度隨合金濃度組成的變化在x=0.18 有著極小
值。再進而選取樣品的合金濃度分別為x £ 0.01、x =0.51、及x =0.93 三
塊樣品做變溫光調制反射光譜實驗。說明其能隙隨溫度升高會往低能
量偏移的現象。樣品x £ 0.01 及 x=0.93,光譜的寬化參數會隨溫度升
高而增大;但x=0.51 因晶格缺陷濃度較大,以致其光譜的寬化參數
受溫度的影響不大。在討論光譜強度時,當待測樣品的時間常數小於
外加交流調變的時間,則強度隨溫度的升高會降低,樣品x £ 0.01 及
x=0.93 即是;反之,待測樣品的時間常數大於外加交流調變的時間,
則強度隨溫度的升高會升高,樣品x=0.51 即是。 | zh_TW |
DC.title | 碲硒化鋅磊晶層之光學特性研究 | zh_TW |
dc.language.iso | zh-TW | zh-TW |
DC.type | 博碩士論文 | zh_TW |
DC.type | thesis | en_US |
DC.publisher | National Central University | en_US |