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DC.contributor | 統計研究所 | zh_TW |
DC.creator | 姜曉玲 | zh_TW |
DC.creator | Xiao-Ling Jiang | en_US |
dc.date.accessioned | 2001-6-15T07:39:07Z | |
dc.date.available | 2001-6-15T07:39:07Z | |
dc.date.issued | 2001 | |
dc.identifier.uri | http://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN= 88225003 | |
dc.contributor.department | 統計研究所 | zh_TW |
DC.description | 國立中央大學 | zh_TW |
DC.description | National Central University | en_US |
dc.description.abstract | 高可靠度產品壽命的評估,而Tseng&Wen (2000)所提出的逐步應力
加速衰變試驗(SSADT)較ALT 及ADT 更能有效縮減試驗時間及試驗的
成本。而在Tseng&Wen (2000)中假設產品品質特性值的誤差項為相
互獨立的常態分配,這與實際的情況並不符合;於是吳明霞(2000)
的文章假設產品的品質特性值是以Wiener 過程進行且利用此模型下
所對應的產品壽命為一轉換型逆高斯分配來探討產品的壽命。
本篇文章將在二種不同衰變模式假設下,一為一般常使用的在Si應力
水準下,考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-βi tα};另一個則是
考慮產品的衰變路徑為L(t| Si)=exp{-(α+βi t)},分別進行逐步應
力加速衰變試驗。而在進行逐步應力加速衰變試驗時,分別用二種方
法處理,一為假設產品品質特性值的誤差項為相互獨立的常態分布;
二為假設產品品質特性值是Wiener 過程。且在相同的衰變模式與試
驗條件下分別用兩種方法進行試驗,並比較其結果。目的在幫助我們
了解在不同的衰變模式下進行逐步應力加速衰變試驗,其在二種不同
的產品品質特性值假設下,所得到的結果是否有差異。 | zh_TW |
DC.title | 逐步應力加速衰變試驗壽命推估之模擬研究 | zh_TW |
dc.language.iso | zh-TW | zh-TW |
DC.type | 博碩士論文 | zh_TW |
DC.type | thesis | en_US |
DC.publisher | National Central University | en_US |