博碩士論文 88226010 完整後設資料紀錄

DC 欄位 語言
DC.contributor光電科學與工程學系zh_TW
DC.creator黃文雄zh_TW
DC.creatorWen-Xiong Haungen_US
dc.date.accessioned2001-6-20T07:39:07Z
dc.date.available2001-6-20T07:39:07Z
dc.date.issued2001
dc.identifier.urihttp://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN= 88226010
dc.contributor.department光電科學與工程學系zh_TW
DC.description國立中央大學zh_TW
DC.descriptionNational Central Universityen_US
dc.description.abstract定性,過大的薄膜應力對薄膜的附著性有不好的影響,過大的張應力 使得薄膜破裂:反之,使得薄膜起皺。所以有效的控制製程後薄膜的 剩餘應力是非常重要的。 本文旨在製鍍良好光學特性的理想薄膜,觀察製程參數對薄膜應 力的影響,期望能從中尋找應力較小的理想薄膜。再比較不同製程方 法製鍍的薄膜,薄膜應力的大小。zh_TW
DC.title 製程參數對薄膜應力影響之研究zh_TW
dc.language.isozh-TWzh-TW
DC.type博碩士論文zh_TW
DC.typethesisen_US
DC.publisherNational Central Universityen_US

若有論文相關問題,請聯絡國立中央大學圖書館推廣服務組 TEL:(03)422-7151轉57407,或E-mail聯絡  - 隱私權政策聲明