博碩士論文 88323017 完整後設資料紀錄

DC 欄位 語言
DC.contributor機械工程研究所zh_TW
DC.creator吳俊諭zh_TW
DC.creatorJui-Yu Wuen_US
dc.date.accessioned2001-7-19T07:39:07Z
dc.date.available2001-7-19T07:39:07Z
dc.date.issued2001
dc.identifier.urihttp://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN=88323017
dc.contributor.department機械工程研究所zh_TW
DC.description國立中央大學zh_TW
DC.descriptionNational Central Universityen_US
dc.description.abstract本研究的主要目的在探討溫度循環試驗中溫度範圍、溫變率及循環數對於電容器的電容值變化、無線電話模組的失效及重要接點電壓衰減的影響。 實驗結果顯示,在電容器方面,溫度範圍增加時,對於塑膠電容、鋁電解電容及積層電容之電容值的變化呈漸增趨勢,而陶瓷電容則呈遞減趨勢。此現象與溫度對於這些電容器的影響趨勢相同。當溫變率越大或循環數越大,則塑膠電容、鋁電解電容、陶瓷電容及積層電容的電容值隨之增加。在無線電話模組方面,溫度範圍越大、溫變率越大或循環數越多,則無線電話模組的失效率會提高。且無線電話主機模組的重要接點電壓值會隨著溫度變化範圍、溫變率及循環數的增加而降低。在數學模式的探討方面,本文之修正型反冪次模式與修正型Hughes模式可準確描述溫度循環試驗中電容器的電容改變量及無線電話主機上重要接點的電壓改變量。此兩種模式中的溫度循環參數包括溫度範圍、溫變率及循環數。zh_TW
DC.subject修正型Hughes模式zh_TW
DC.subject 修正型反冪次模式zh_TW
DC.subject 溫度循環試驗zh_TW
DC.subject 溫度範圍zh_TW
DC.subject 溫變率及循環數zh_TW
DC.subject 無線電話模組zh_TW
DC.subject 電容zh_TW
DC.title溫度循環對於電容及通訊模組之破壞效應研究 zh_TW
dc.language.isozh-TWzh-TW
DC.type博碩士論文zh_TW
DC.typethesisen_US
DC.publisherNational Central Universityen_US

若有論文相關問題,請聯絡國立中央大學圖書館推廣服務組 TEL:(03)422-7151轉57407,或E-mail聯絡  - 隱私權政策聲明