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語言 |
| DC.contributor | 機械工程研究所 | zh_TW |
| DC.creator | 徐盛峰 | zh_TW |
| DC.creator | Shin-Fong Xiu | en_US |
| dc.date.accessioned | 2001-7-12T07:39:07Z | |
| dc.date.available | 2001-7-12T07:39:07Z | |
| dc.date.issued | 2001 | |
| dc.identifier.uri | http://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN=88323110 | |
| dc.contributor.department | 機械工程研究所 | zh_TW |
| DC.description | 國立中央大學 | zh_TW |
| DC.description | National Central University | en_US |
| dc.description.abstract | 在研究可靠度的問題時，可將可靠度問題分為兩類：1.可靠度在設計規格方面的問題 2.可靠度在壽命方面的問題，本文所討論的即是低通濾波器在元件變異下設計規格方面的的可靠度問題。何謂設計規格方面的可靠度問題，為考慮系統某部分之設計參數為隨機變數，造成可靠度之行為發生變化，如產品設計參數及製程設計參數等。
本文的主要架構，建立在以狀態限制函數配合蒙地卡羅法，分析類比電路系統的可靠度，並以低通濾波器為實例分析有關系統參數設計的可靠度。
考慮的系統包括兩種不同型式的Butterworth與Chebyshev低通濾波器，使用Sallen-Key電路做串級設計，在模擬中假設運算放大器為理想元件，電容電阻器等被動元件有製造上的精密度變異。首先給予訊號與雜訊分佈，然後決定濾波器的階數與設計規格，包括通過帶頻率與最大容許衰減、阻滯帶頻率與所需最小衰減以及截止頻率的設計，然後建立規格的限制函數，使用蒙地卡羅法對元件值變異分佈進行機率取樣模擬規格變異，符合規格限制的電路數除以取樣樣本數即可算出元件在不同精密度的影響下系統的的可靠度變化，並據此分析截止頻率的設計值。
此系統可靠度退化趨勢為單調遞減，與累積失效的可靠度退化相同，所以本文亦以本研究室所發展出之累積失效模式描述設計規格方面可靠度退化情形。 | zh_TW |
| DC.subject | 可靠度 | zh_TW |
| DC.subject | 濾波器分析 | zh_TW |
| DC.subject | 累積失效 | zh_TW |
| DC.subject | 規格可靠度 | zh_TW |
| DC.subject | 類比電路容差分析 | zh_TW |
| DC.title | 低通濾波器設計可靠度分析 | zh_TW |
| dc.language.iso | zh-TW | zh-TW |
| DC.type | 博碩士論文 | zh_TW |
| DC.type | thesis | en_US |
| DC.publisher | National Central University | en_US |