博碩士論文 91225001 完整後設資料紀錄

DC 欄位 語言
DC.contributor統計研究所zh_TW
DC.creator陳志偉zh_TW
DC.creatorZhi-Wei Chenen_US
dc.date.accessioned2004-6-15T07:39:07Z
dc.date.available2004-6-15T07:39:07Z
dc.date.issued2004
dc.identifier.urihttp://ir.lib.ncu.edu.tw:88/thesis/view_etd.asp?URN=91225001
dc.contributor.department統計研究所zh_TW
DC.description國立中央大學zh_TW
DC.descriptionNational Central Universityen_US
dc.description.abstract本文主要是在探討在不同的設限資料型態之下,如何對韋伯分配的可靠度作假設檢定。我們所考慮的資料形態有一組原件(single socket)、多組元件(multiple socket)、型I設限資料(Type I censored data)以及型Ⅱ設限資料(Type II censored data),而我們所利用的檢定方法有二項檢定(binomial test) 、概似比檢定(likelihood ratio test)、log-likelihood ratio test、最大概似估計量(maximum likelihood estimator)的大樣本性質以及score檢定。 為比較各種檢定之優劣,本文透過模擬範例,以檢定力(power)作為比較的依據。結果顯示無論是在小樣本或者是大樣本之下,以概似比檢定表現的結果最令人滿意,其所以得到的檢定力都比其它檢定方法來的高,至於其它在大樣本之下所產生的檢定方法,像是log-likelihood ratio test、最大概似估計量的大樣本性質、score檢定或者是型Ⅱ設限資料中可變動基準量的近似分配方法,則需要樣本數大時,才能得到不錯的結果。zh_TW
DC.subject韋伯zh_TW
DC.subject可靠度zh_TW
DC.subject檢定zh_TW
DC.subjectreliabilityen_US
DC.title韋伯可靠度檢定問題之探討zh_TW
dc.language.isozh-TWzh-TW
DC.type博碩士論文zh_TW
DC.typethesisen_US
DC.publisherNational Central Universityen_US

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